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CEO帕特·基辛格明确表示：“我非常兴奋地告诉大家，18A工艺现阶段的缺陷密度(D0)已经低于0.4，非常健康。” 所谓缺陷密度(defect density)，是指每平方厘米晶圆上的缺陷......
引用地址：1 专业的光学设计 人眼作为高敏感度和灵活的感知器官，能够适应不同光照条件、角度和材料类型，对于各种不同类型的缺陷具有较强的辨识能力。采用AI技术识别缺陷，首要条件是在适当的光照条件下采集到缺陷......
等） 而GTAT本身是从生产制造长晶炉起家的，到现在差不多有20年左右的碳化硅长晶炉的设计制造经验，对于晶体生长的这些挑战，GTAT拥有者丰富的经验，我们有高品质的籽晶，很好的温度的控制等，有很好的缺陷控制技术以及很好的缺陷......
SiC生长过程及各步骤造成的缺陷;众所周知，提高 质量对制造商来说非常重要，因为它直接决定了 器件的性能，从而决定了生产成本。然而，具有低缺陷密度的 的生长仍然非常具有挑战性。本文......
等） 而GTAT本身是从生产制造长晶炉起家的，到现在差不多有20年左右的碳化硅长晶炉的设计制造经验，对于晶体生长的这些挑战，GTAT拥有者丰富的经验，我们有高品质的籽晶，很好的温度的控制等，有很好的缺陷控制技术以及很好的缺陷......
RZ/V2M应用于工业领域缺陷检测;在电子制造业中是非常重要的应用。然而，由于存在的缺陷多种多样，传统的机器视觉算法很难对缺陷特征进行完全建模和迁移缺陷特征，致使......
半导体的质量和可靠性非常关键。汽车芯片内部，可能会隐藏一些潜在的缺陷，外部环境的变化就有可能引发安全性和可靠性问题，这些外在因素包括酷暑的高温而引发的缺陷扩张，颠簸路段造成的震动，大雨导致的高湿度，寒冷......
作依托于吴汉明院士牵头的浙江省12吋CMOS成套工艺研发平台，通过少样本学习、多模态驱动的垂直领域知识学习和边缘加速器设计这三项核心技术，实现了精确的缺陷检测及根因分析、多模态IC领域......
基于机器视觉的缺陷检测常用算法有哪些;压铸模服役过程中的工作环境恶劣，模具零件表面不仅需要承受高速金属液的冲刷，还要经历合模、压射、开模、冷却过程中剧烈的热交换，故压......
。 特殊的照明技术对人眼难以目视的缺陷进行可靠检测和智能分类。因此，可以得出关于故障原因或工艺参数的结论，然后可以对其进行持续监测和优化。  优势 在高速下保持精确的外观质量检测；有效......
静态和运行时分析工具，以满足标准。因为安全关键系统中的缺陷可能会导致严重后果，如人员伤亡或环境破坏。 关注可靠性 安全编码技术要综合考虑代码质量、代码安全性和代码防护能力。代码......
、EN 50128和ISO 26262等功能安全标准建议[或强烈建议，具体取决于安全完整性等级（SIL）或汽车安全完整性等级（ASIL）]使用静态和运行时分析工具，以满足标准。因为安全关键系统中的缺陷......
身焊接过程中会使用到各种检测方案，以保证汽车的安全性和可靠性。其中，焊缝检测能有效发现车身中的所有焊接缺陷，并在焊接流程结束后立即检测出最轻微的缺陷。从而迅速实施纠正措施，打造无缺陷的车身组件。在提高客户满意度的同时，也提......
在不断变化和竞争愈发激烈的市场中占据优势，企业既要不断提高产品质量标准以满足客户需求，又要不断提升生产线的效率以适应市场的快节奏。采用自动化、智能化的表面缺陷检测方法是兼顾质量与效率的重要手段。   即利用图像处理和分析对产品可能存在的缺陷......
是德科技推出面向半导体制造的键合线(Wire Bonding)检测解决方案; •该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷，全面评估金线键合的完整性 •先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷......
是德科技推出面向半导体制造的键合线（Wire Bonding）检测解决方案; 该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷，全面评估金线键合的完整性 先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷......
国家技术标准院今天的似乎给出了答案。 声明称，10日下午，产业资源部、国家技术标准院、三星电子、民间专家一同出席了“Galaxy Note7事故调查联席会议”,确认Note 7手机可能存在新的缺陷，建议......
AOI检测系统的光源照明模式和控制电路设计;摘要 针对在不同照明方式下会出现不同的缺陷特征，根据不同缺陷的检测方法和采用的照明方式密切相关的特点，设计了光源二级照明系统及控制电路。此系......
平板导体深层缺陷定量检测仿真研究;本文引用地址：0 引言 涡流检测技术是常用的无损检测技术的一种，能在不破坏被测试体的情况下检测其可能存在的缺陷，因此得到广泛应用。传统......
语言的安全编码提供规则和建议，这些规则和建议的目标是开发安全、稳定和可靠的系统。 CWE CWE是基于社区开发的一组影响信息安全的软件和硬件缺陷列表。它用通用语言描述和讨论软件和硬件的缺陷......
规则和建议的目标是开发安全、稳定和可靠的系统。 CWE   CWE是基于社区开发的一组影响信息安全的软件和硬件缺陷列表。它用通用语言描述和讨论软件和硬件的缺陷，可以作为缺陷识别、缓解和预防工作的公共基线标准。因此，CWE......
地结构的电路设计和制造始终受到担忧。一直以来，电路内的缺陷地结构模型和电磁仿真软件工具均有限。但是，随着计算机和电路模拟器的发展，缺陷地结构模型也得到了改进，即使采用自定义缺陷地结构的电路，也可......
解读碳化硅测试带来的新挑战;汽车电气化推动了对SiC（碳化硅）功率芯片的需求，但也给寻找和识别这些芯片中的缺陷带来了挑战。 与此同时，人们越来越认识到SiC技术是多么不成熟，还有......
上特殊的设计却能够实现更好的效果。本文提出基于改进FCOS的表面缺陷检测算法，提升钢铁表面的缺陷检测效率。 针对现有钢带表面缺陷检测所存在的检测效率低、适用范围有限等缺陷，提出一种基于改进FCOS的钢带表面缺陷检测算法。该算法使用含形变卷积的卷积神经网络提取缺陷......
是德科技推出面向半导体制造的键合线（Wire Bonding）检测解决方案;• 该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷，全面评估金线键合的完整性• 先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷......
基于深度学习识别模型的缺陷检测方法;一、介绍 缺陷检测被广泛使用于布匹瑕疵检测、工件表面质量检测、航空航天领域等。传统的算法对规则缺陷以及场景比较简单的场合，能够很好工作，但是对特征不明显的、形状......
投影仪DLP技术与LCD技术的区别是什么？两个技术各有什么优劣？;投影仪产品优缺点很明显，投影仪是一个快速发展的行业，基本每种技术都有属于这种技术缺陷，这些技术的缺陷不是某个产品说没有就没有的，只能......
将讨论您在做出选择时应特别留意的一些关键标准。 状态监控 CbM是利用传感器监测机械系统可能出现的潜在缺陷或损坏的过程。CbM用于监测滚珠轴承、齿轮、泵和许多其他应用中的缺陷。通常......
传统算法难以预测未知的异常涂胶情况。 •产品良率较高 若采用深度学习算法，则需要充足的高质量样本。汽车行业良率较高，短时间内难以收集到足够数量的缺陷样本。 •检测指标严苛 为了严格把控质量和成本，客户......
检测技术是在不破坏产品的前提下，对产品进行检测和分析的技术。无损检测技术可以检测出产品内部的缺陷，如裂纹、气孔、夹杂物等，而不会对产品造成进一步的损伤。常见的无损检测技术包括超声检测、X 射线检测、磁粉检测、渗透......
检测出整个批次都有问题。 好消息是，缺陷只涉及上一代MacBook Air，而非最新机型，并且都没有真正进入市场，大家不必担心。 但是，苹果并未公布具体是轴承当中的哪个部件存在如此之高的缺陷......
。” 第二种传感器使用经过训练的深度神经网络来检测视频流中的缺陷。用户可以看到激光雷达无法测量的物体，如网状裂缝或由于沥青上的“油漆”标记（人行横道或褪色的车道线）造成的缺陷。 这两......
/240Hz、27英寸2K/360Hz。两款新品首次采用一种防止烧屏的散热技术来避免此前OLED面板的缺陷。 三星于6月3日发布2024版Odyssey OLED G8......
对电源管理应用中设备小型化和提高效率的需求不断增长。 随着半导体器件尺寸的缩小和复杂化，缺陷定位和变得更加关键，也更具挑战性。有了高密度互连、晶圆级堆叠、柔性电子和集成基板等结构元素，导致故障的缺陷......
决某些特定冲突增设一个禁止视频播放选项   – 修正PAX MP皮肤   – 修正武器选择菜单持续渲染使其模糊的缺陷   – 增设HDR亮度范围滑动条   – 修正合作模式缺陷，某些......
大限度地提高成品器件的产量。计量和检测平台在能够测量最小的缺陷或图案边缘，在相对较大的视场上，以确保 300mm 晶圆的高产量。 为了满足亚 20nm 间距的 N3 代器件的需求，基于光学、电子束（e-beam）、X 射线......
线出现意外多余的部分，就可能会形成环状，这不仅会损害键合的质量，还会对设备的功能造成不利影响。 导线短路：这是一种极为严重的缺陷，具体表现为两根导线之间发生了意外的电气接触，进而......
超越车规！国产SiC衬底致命缺陷降80%;近日，国内一家SiC衬底厂商取得了车规级的技术成果。 据山西天成半导体介绍，他们新开发的6英寸导电型SiC衬底的缺陷得到了非常好的抑制，其中部分TSD缺陷......
Intel自曝Atom致命缺陷：服务器瘫痪断网;近日，Intel正式公布了一个关于Atom C2000低功耗服务器处理器的缺陷。 Intel表示，Atom C2000处理器存在一个严重缺陷，设备......
所影响的范围是全球性的。而且由于是硬件层面的缺陷，所以目前并没有很好的方法来防止借助这种技术实施的攻击，只能期待下一代Realtek音频芯片可以改善设计。 责任编辑：mooreelite......
基于机器视觉的缺陷检测的原理与方法;基于统计分类的方法： （1）基于KNN方法（最近邻法）：利用相似度，找出k个训练样本，然后打分，按得分值排序。 （2）基于Naive Bayes算法：计算......
的目的是根据预先设定的检查部位，按照一定的路线和规定的时间进行巡视检查，及时发现设备的异常情况，进行处理，以消除运转中设备的缺陷和隐患，保证生产稳定运行。 二、巡检方法 巡检人员在设备巡检过程中，严格......
的集成成像上。在实际生产中，我们往往是给定程序一些具体的缺陷模式，使用机器视觉来识别它们到底有没有发生以及和标准对比的质量偏差程度。但有些缺陷并不一定在我们之前经验中遇到过，进而导致漏检。如果人工质检，质检员一般会意识到新增的缺陷......
领域都具有一定的作用。红外热像仪具有非接触、直观、反应速度快、隐蔽性好等诸多优点。虽然存在一定的缺陷和使用限制，但仍然是非常有用的监控设备。下面我们就来了解一下热像仪的作用和作用。 一、热成像仪的功能和作用 热成......
20A 工艺的产品包括英特尔 Arrow Lake 处理器桌面版的 6+8 核心设计。 ▲ Intel 18A 晶圆 英特尔表示 Intel 18A 制程的缺陷密度指标 D0（IT之家注：每平方厘米缺陷......
是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断，有助于进行分析并改进。随着集成电路尺寸的增长并且制造工艺的规模越来越小，嵌入式压缩被加入了扫描 DFT（可测性设计）逻辑，从而......
十九纪诞生电机的时候，产生的实用性电机就是无刷形式，即交流鼠笼式异步电动机，这种电动机得到了广泛的应用。但是，异步电动机有许多无法克服的缺陷，以致电机技术发展缓慢。上世纪中叶诞生了晶体管，因而......
户校准过程中，我们首先测量一些已知标准。例如，我们可以使用上一篇文章中的短期、开放和（匹配的）负载校准标准。这些测量值允许我们确定互联的影响以及的缺陷，并修正它们的误差项。这种独特的用户校准功能使VNA成为......
晶圆边缘的两侧沉积一层专有的保护膜，有助于防止在先进半导体制造过程中经常发生的缺陷和损坏。这一强大的保护技术提高了良率，并使芯片制造商能够实施新的前沿工艺来生产下一代芯片。Coronus DX 是Coronus®产品......
印刷电路板（PCB）工厂的模拟、机器人和自动化生产检测。通过Metropolis，这家电子制造巨头能够从小型数据集开始快速更新缺陷检测模型，并使AOI系统的准确率达到99.8%。 图中红色框为AOI检测出的缺陷......

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