资讯
总投资3.6亿元,金连接半导体芯片测试探针零件制造项目封顶(2022-12-28)
总投资3.6亿元,金连接半导体芯片测试探针零件制造项目封顶;据“ 浙江金连接科技股份有限公司”消息,12月26日,金连接半导体芯片测试探针零件制造项目封顶,标志着项目建设取得阶段性进展。
消息......
矽电股份创业板IPO成功过会,股东涵盖华为、三安光电等(2023-04-14)
成功过会,其将有望成为A股市场“半导体探针台第一股”。中国经济网消息显示,矽电股份是今年过会的第89家企业。
公开资料显示,矽电股份主要从事半导体专用设备的研发、生产和销售,专注于半导体探针......
晋成半导体总部项目落户无锡高新区(2024-08-02)
晋成半导体总部项目落户无锡高新区;7月31日,无锡高新区、晋成半导体、锡创投在无锡进行合作签约,标志着晋成半导体探针卡项目正式落地无锡高新区。
据无锡高新区在线消息,晋成半导体总部项目投资超2......
2023 年半导体测试设备市场可能出现萎缩(2023-07-27)
年半导体探针卡(Probe card)收入下降了 0.5%,而在 2023 年还将有约 13% 的下跌。
(图片来源:Yole......
矽电-泰克晶圆级探针测试测量联合实验室正式成立(2023-06-16 10:41)
设备(深圳)股份有限公司(简称“矽电”),成立于2003年12月25日,主要从事半导体专用设备的研发、生产和销售,专注于半导体探针台测试技术领域,系中国境内领先的探针测试技术系列设备制造企业。矽电半导体自主研发了多种类型应用探针测试技术的半导体......
矽电-泰克晶圆级探针测试测量联合实验室正式成立(2023-06-16)
出料方式
•支持多台站并行测试
关于矽电
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司(简称“矽电”),成立于2003年12月25日,主要从事半导体专用设备的研发、生产和销售,专注于半导体探针......
矽电-泰克晶圆级探针测试测量联合实验室正式成立(2023-06-16)
于2003年12月25日,主要从事半导体专用设备的研发、生产和销售,专注于半导体探针台测试技术领域,系中国境内领先的探针测试技术系列设备制造企业。矽电半导体自主研发了多种类型应用探针测试技术的半导体设备,产品......
提高芯片测试性能,真的有那么难吗?(2021-12-22)
传输速度进行可靠测试。
DaVinci 56高速测试插座应用
结论
测试插座是半导体制造过程的关键零件,但随着封装类型的激增、尺寸的缩小和速度的提高,设计者必须应对越来越多的不同挑战。史密斯英特康的测试插座具有杰出的弹簧探针......
中航红外新一代化合物半导体研制基地项目落地临港(2021-09-09)
中航红外新一代化合物半导体研制基地项目落地临港;据上海临港消息,9月8日上午,上海临港新片区管委会与中航凯迈(上海)红外科技有限公司(以下简称“中航红外”)签订投资协议,共同推动中航红外新一代化合物半导体......
华南站 多项创新技术聚合,智能检测技术如何炼就“火眼金睛”?(2023-09-20 09:24)
月1日,再次登陆深圳国际会展中心(宝安新馆)。展会将围绕自动化与运动控制、测试测量、表面贴装、点胶注胶&化工材料、线束加工、半导体封装及制造等领域,立足行业前沿,聚焦新旧动能转换,为电......
向微间距迈进,高速芯片测试领先者再秀肌肉(2022-10-14)
满足用户对于芯片性能提出的高要求,各种封装技术不断更新迭代。
面对越来越复杂的芯片封装类型,为了保证芯片功能的稳定可靠,测试环节成为芯片验证出厂的关键一步,而测试插座作为半导体芯片封装后测试过程的关键零件,尤其......
尼得科精密检测科技推出半导体测温探针卡及支持高电压的加压结构探针卡(2024-12-16 10:12)
尼得科精密检测科技推出半导体测温探针卡及支持高电压的加压结构探针卡;
尼得科精密检测科技株式会社(以下简称“本公司”)子公司尼得科SV Probe正式发售以下产品:①半导体设备温度测量探针......
和林微纳拟定增募资7亿元布局晶圆测试探针量产等项目(2021-11-22)
建于MEMS工艺晶圆测试探针研发量产项目、基板级测试探针研发量产项目以及补充流动资金。
据公司介绍,先进的半导体测试技术可以在一定程度上提升芯片的性能,而半导体测试设备、关键零部件系半导体......
中国台湾地区四大测试界面厂业绩看好,将冲刺市占(2024-04-15)
如何提升长期竞争力及毛利率,相关业内人士认为,掌握技术门槛高的探针卡自制能力,才是真正的关键。
半导体测试在大环境增长的带动下,全年营运相对去年乐观,中国......
星纵物联家用可燃气体探测器,防患于未“燃”(2022-12-16)
提供了控制输出接口,可在险情发生时,关闭燃气阀门并启用换气扇,及时消除隐患。
01高性能探测传感器,灵敏度高
星纵物联家用可燃气体探测器内置半导体式气体传感器,灵敏度高,可精准探测泄漏气体。
02双重......
清华大学材料学院李千课题组合作在半导体中子探测晶体研发领域取得进展(2023-05-12)
探测器的高性能多应用场景需求也亟待新型中子探测材料的开发研究。在过去几十年中,利用含6Li和10B材料制备出的固体探测器被广泛研究,例如闪烁体探测器和10B/6Li转换层涂覆的半导体探测器等。在上述器件中,闪烁体和间接型探测半导体......
关于半导体芯片封装测试插座和探针市场研究报告(2020-07-16)
关于半导体芯片封装测试插座和探针市场研究报告;有数据显示,相比国内市场2019对半导体芯片基座和探针的需求量182million美金,仅占全球市场15%左右,这一数据显然与我国每年消耗大约全球33......
Kelvin 探针为标准阵列和晶圆级设备的量产测试提供一流的性能(2021-11-16)
Kelvin 探针为标准阵列和晶圆级设备的量产测试提供一流的性能;史密斯英特康是全球领先的关键半导体测试应用创新解决方案的供应商,其最新推出的创新且稳健的Kelvin(开尔文)弹簧探针技术,适用......
泽丰半导体先进晶圆级测试材料及自动化装备产业化研发项目通产(2022-01-24)
基板、薄膜工艺、探针卡自动化生产四大研发项目设备已陆续入场调试生产。
据官微介绍,泽丰半导体先进晶圆级测试材料及自动化装备产业化研发项目是临港新片区管委会评审认定的战略新兴产业重点项目,一期......
奕丞科技半导体测试探针与探针卡项目签约落户江苏扬州(2022-08-05)
奕丞科技半导体测试探针与探针卡项目签约落户江苏扬州;据扬州四新产业园消息,8月4日,半导体测试探针与探针卡项目签约落户江苏省扬州市江都经济开发区。
消息显示,该项目由扬州奕丞科技有限公司(以下......
矽电-泰克晶圆级探针测试测量联合实验室正式成立(2023-06-15)
矽电-泰克晶圆级探针测试测量联合实验室正式成立;构筑国产化合物半导体功率器件测试验证的能力基石
中国深圳 2023年6月15日 – 泰克科技(中国)有限公司和矽电半导体设备(深圳)股份......
如何测试光耦合器(查找不良光耦合器)(2024-02-26)
类型都具有红外 LED 光源,但具有不同的光敏器件。这四种光耦合器分别称为:光电晶体管、光电达林顿、光电SCR 和光电双向可控硅,如下所示。
方法#1:
1.所需零件:万用表或欧姆表、光耦......
半导体测试需求回暖 DDI探针卡又见新订单(2023-04-14)
半导体测试需求回暖 DDI探针卡又见新订单;
【导读】据业内消息人士称,半导体测试服务提供商表示客户开始补充显示驱动器IC(DDI)和PC外围......
MPI SENTIO(R)和QAlibria(R)现已涵盖四端口射频系统自动校准(2022-12-13)
,总部设在台湾新竹,是半导体、发光二极体 (LED)、光电探测台、雷射、材料研究、航太(航天)、汽车、光纤、电子零组件等领域的全球技术领导者。旺矽科技的四个主要业务部门包括探针卡、LED及光电测试、先进半导体......
MPI SENTIO(R)和QAlibria(R)现已涵盖四端口射频系统自动校准(2022-12-14 09:41)
设在台湾新竹,是半导体、发光二极体 (LED)、光电探测台、雷射、材料研究、航太(航天)、汽车、光纤、电子零组件等领域的全球技术领导者。旺矽科技的四个主要业务部门包括探针卡、LED及光电测试、先进半导体......
吉时利四探针法测试系统实现材料电阻率的测量(2023-05-25)
吉时利四探针法测试系统实现材料电阻率的测量;电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻率。
四探针法是目前测试半导体材料电阻率的常用方法,因为......
星纵物联家用可燃气体探测器,防患于未“燃”(2022-12-16)
度高
家用可燃气体探测器内置半导体式气体传感器,灵敏度高,可精准探测泄漏气体。
02
双重报警,安全更有保障
当泄露气体浓度超过报警设定值8% LEL,设备立即触发本地声光报警,并远程推送报警通知。
03......
尼得科精密检测科技将参展SEMICON TAIWAN 2024(2024-09-02)
卡”
・可支持−40℃~200℃测量的“TC探针”
・可支持尖端半导体设备最小凸点间距60㎛的“MEMS FLEX探针卡”
・可支持高电压、高温环境的“腔室头(Chamber......
尼得科精密检测科技将参展SEMICON TAIWAN 2024(2024-09-03 13:07)
噪音影响的“2D MEMS探针卡”• 可支持−40℃~200℃测量的“TC探针”• 可支持尖端半导体设备最小凸点间距60㎛的“MEMS FLEX探针卡”• 可支持高电压、高温环境的“腔室头(Chamber......
尼得科精密检测科技将参展SEMICON TAIWAN 2024(2024-09-02)
转换器MLO”
・高精度、降低噪音影响的“2D MEMS探针卡”
・可支持−40℃~200℃测量的“TC探针”
・可支持尖端半导体设备最小凸点间距60㎛的“MEMS FLEX探针卡”
・可支持高电压、高温......
我国量子芯片生产线搭载“火眼金睛”(2022-11-30)
台由合肥本源量子计算科技有限责任公司完全自主研发,最小测量范围缩至微米级,探针造成的薄膜伤痕直径最小在1微米以内,测量过程不影响超导量子比特相干性能,具备高稳定性和高运动精度的优势,也适用于半导体芯片、半导体器件等精密电气测试。目前,该无损探针......
尼得科精密检测科技将亮相SEMICON Japan 2024(2024-11-21 11:12)
2024”(2024日本东京半导体展览会)。
在本届展览会上,尼得科精密检测科技将展出针对IGBT/SiC功率半导体检测设备、EV/HEV等驱动电机测试台以及晶圆检测夹具“探针卡”等新......
携手并进 共谱新篇!浙江微针半导体与嘉善复旦研究院签署战略合作协议(2024-10-23)
携手并进 共谱新篇!浙江微针半导体与嘉善复旦研究院签署战略合作协议;浙江微针半导体(以下简称我司)与嘉善复旦研究院签署战略合作协议,进一步深化和加强半导体集成电路产业领域的合作。合作共赢,互利......
日本麦克芯探针卡研发生产项目签约落户嘉兴科技城(2021-11-04)
日本麦克芯探针卡研发生产项目签约落户嘉兴科技城;嘉兴科技城消息显示,近日,由日本MJC公司投资的年产72万PIN半导体测试仪用探针卡研发生产项目签约落户嘉兴科技城。该项目的落户将填补嘉兴科技城在半导体领域探针......
思达科技推出3D/2.5D MEMS微悬臂WAT探针卡(2023-04-19)
思达科技推出3D/2.5D MEMS微悬臂WAT探针卡;
【导读】近日,半导体测试探针卡制造领导厂商—思达科技,推出应用在WAT可靠性测试的3D/2.5D MEMS微悬臂探针卡。思达......
携手并进 共谱新篇!浙江微针半导体与嘉善复旦研究院签署战略合作协议(2024-10-24 09:13)
携手并进 共谱新篇!浙江微针半导体与嘉善复旦研究院签署战略合作协议;浙江微针半导体(以下简称我司)与嘉善复旦研究院签署战略合作协议,进一步深化和加强半导体集成电路产业领域的合作。合作共赢,互利......
如何选择合适的气体检测器?(2023-03-27)
如何选择合适的气体检测器?;在选择任何产品时,我们都需要知道并确定它们是否合适。气体探测器也是如此。毕竟,气体探测器可以广泛应用于石化行业、环保、冶金、煤矿、制药......
霍尼韦尔发布七款新品 赋能未来工业自动化发展(2024-11-07 15:10)
国首发首秀产品。此次新产品在进博会的亮相,不仅展示了霍尼韦尔持续通过本土技术创新赋能新质生产力,也彰显了公司对中国未来工业自动化发展的坚定承诺。
(图为:霍尼韦尔中国首发新品Midas® S1半导体用气体探......
旺矽科技先进半导体测试部门实现高达110 GHz的可追溯射频校准突破(2024-01-25)
设有五大营运事业群,分别为:探针卡测试、光电组件自动化测试、先进半导体测试、高低温测试、及Celadon 高性能探针卡工程测试。
旺矽自主开发、生产及销售广泛的测试服务及产品,包括先进的探针卡技术、量产......
旺矽科技先进半导体测试部门实现高达110 GHz的可追溯射频校准突破(2024-01-25 11:02)
球领先的测试方案设计及制造商,秉持以客户为导向的核心经营理念,致力于开发前瞻量测技术,为半导体、LED、PD、激光、材料研究、航天(航天)、汽车、光纤、电子组件等产业客户量身打造解决方案,旗下设有五大营运事业群,分别为:探针......
史密斯英特康发布Volta 180系列探针头提升晶圆测试方案性能(2020-11-30)
史密斯英特康发布Volta 180系列探针头提升晶圆测试方案性能;半导体测试解决方案供应商史密斯英特康今天发布全新 Volta180 测试头扩大Volta产品线,支持市场对更小间距的晶圆尺寸,晶圆......
史密斯英特康推出新一代DaVinci 112高速测试插座(2022-12-21)
史密斯英特康推出新一代DaVinci 112高速测试插座;
【导读】全球领先的半导体测试应用创新解决方案供应商史密斯英特康宣布扩展其DaVinci产品系列发布DaVinci 112......
半导体参数测试的关键问题之一:探针的接触电阻(2022-12-05)
半导体参数测试的关键问题之一:探针的接触电阻; 通常,参数测试系统将电流或电压输入被测器件(DUT),然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为:从测试仪通过电缆束至测试头,再通过测试头至探针......
第三代MINI SMD塑封贴片型热释电红外传感器(2023-02-04)
震动或跌落撞击可能导致敏感元件发生断裂。
5、传感器窗口为硅基半导体特殊材料真空镀膜滤光镜片,使用时请勿用手或硬物直接接触。
6、传感......
人体传感器设计秘籍(2023-09-07)
引用地址:市场上有各种各样的人体,但都可归类为这两种:主动人体(有源)和被动人体(无源传感器),且分为电池供电的人体检测器以及线路供电的人体检测器。而我们今天主要讲述的是来自半导体关于被动红外(PIR)传感......
LED基础知识及万用表测试LED方法(2023-04-03)
LED基础知识及万用表测试LED方法; LED(发光二极管)是一种半导体二极管(一种p-n结),可在正电流从LED阳极流向阴极时发光。阳极表示为“+”,即二极管的正极。阴极表示为“-”,即二......
S500自动参数测试系统的功能特点及适用范围(2023-05-19)
满足实验室要求,也可满足工业化要求。
如2600-PCT-xb测试系统配备吉时利的S500系列自动测试系统,就可以实现全自动快速测试,通过预设程序配合自动探针台可在短时间内完成片上测试,非常适于大批量工业化的半导体器件测试使用。
......
第二十一届中国国际半导体博览会闭幕,博威合金半导体靶材背板材料引关注(2024-11-21)
拥有优异的强度和耐磨耐腐蚀性能。PlugMax22制造的检测探针,不仅确保信号传输稳定,且探针尖端不易磨损变形,能充分满足半导体领域探针检测需具备的性能要求。此外,博威合金4N5以上高纯铜,具有......
韩国研发新型3D物体探测系统,自动驾驶汽车导航再升级(2023-12-04)
韩国研发新型3D物体探测系统,自动驾驶汽车导航再升级;自动驾驶汽车在导航过程中,必须配备物体探测系统以规避道路上的障碍。然而,现行的探测技术在遇到恶劣天气、无规则道路或视线被遮挡的情况下,其探......
一批半导体专利曝光,涉及中芯国际等公司(2023-09-25)
所述晶圆夹具的上表面和所述晶圆的上表面共面。本申请提供一种晶圆测试装置,利用晶圆夹具与晶圆边缘的弧形倒角贴合,避免测试探针扎在弧形倒角上弯曲,可以避免探针卡在测试过程中损坏,并提高晶圆测试效率。
三安半导体器件专利获授权
天眼......
相关企业
飞凯曼科技有限公司致力于打造中国最大、最专业的表面缺陷检测系统、在线表面缺陷检测系统、视频表面缺陷检测系统、探针台、变温探针台、高低温探针台、霍尔效应测试仪、微波介电常数测试仪、光纤放大器、半导体激光器、单频激光器、单纵模激光器、单频半导体
、 PCB测试探针、高电流测试探针、半导体测试探针等。 治具系列:真空治具、防漏测试系统、LCD测试治具、测试系统、拉力测试机等。 仪器系列:推拉力计、噪音计、温湿度计、音位校正器等。 电子
;上海钦玉电子科技有限公司(耗材部);;我公司总部在台湾,主要生产测试探针,同时代理POGO,IDI,INGUN探针,主要服务于PCB,SMT,半导体及汽车电子,工业自动化等行业,与客户共赢,共同
的所有系列产品,提供各种测试探针和测试配件,广泛应用于:半导体、PCB、ICT-FCT、连接器及其它电路元件的测试。公司秉承优质、高效、专业、进取的精神理念,一直以来为广大客户提供优质的产品、合理
;广州市昆德科技有限公司;;本公司由数位曾在广州半导体材料研究所获得半导体测试仪多项成果奖的高级工程师主持产品开发,他们已完成过的研制项目有:硅产品寿命测试仪数字电阻率测试仪硅外延层击穿电压测试仪精密四探针
立以来即专注印刷电路板(空板与实板)测试针的制造,也积机朝半导体测试用针及相关治具开发。更不断开发各种特殊应用探针,例如:同轴针、大电流针、高频针、BGA等。 『随时为客户提供需求的产品』是我
;美国康纳机械制造服务公司;;我司成立于1913年,在提供高精密金属冲压,电线型,弹簧和统一组装需求上处于国际领先地位。我们提供在电子零件,半导体包装,和重型卡车市场的技术支持和工业科技。我们
;深圳市凌云科技有限公司;;凌云国际股份有限公司成立于2000年,10年来业务发展迅速,已发展成为一家领先的的电子零件代理商。公司主要代理美国福斯特半导体 FIRST,代理上海芯龙半导体
专业代理商,在东莞、苏州、杭州、宁波均有销售办事处,授权一级代理销售台湾友顺科技UTC、强茂PANJIT、绿达GRENERGY等全球知名半导体品牌半导体零件,专业服务于汽车电器仪表、电力电表、工业控制器、电梯
封装测试方案。公司通过ISO9001:2000质量体系认证,产品以品质为中心,竭诚为客户提供优质的BGA半导体封装测试产品的服务。与此同时,公司在PCB传统测试探针