资讯
基于改进FCOS的表面缺陷检测算法(2024-03-26)
基于改进FCOS的表面缺陷检测算法;相比two-stage方法，one-stage的目标检测算法在工业界更受追捧。one-stage的模型目前可以分为两大类：anchor-based和anchor......
基于机器视觉的表面缺陷检测难题研究(2024-08-19)
的种类复杂
类间差异大，工业品的外观缺陷复杂多样，不同类别的缺陷之间形态特征可能差异极大，这种差异导致检测算法的普适性不强，许多缺陷需单独开发检测算法，开发复杂度极高。 类间模糊性大，类间......
RZ/V2M应用于工业领域缺陷检测(2023-09-28)
在领域的应用，以PCB电路板缺陷检测为例。
在这里，我们提出了一种缺陷检测解决方案，使用YOLOv3-tiny深度学习算法。YOLOv3-tiny是一种轻量级的目标检测算法。YOLOv3-tiny的网......
基于机器视觉的缺陷检测常用算法有哪些(2024-07-09)
基于机器视觉的缺陷检测常用算法有哪些;压铸模服役过程中的工作环境恶劣，模具零件表面不仅需要承受高速金属液的冲刷，还要经历合模、压射、开模、冷却过程中剧烈的热交换，故压......
东方晶源首台关键尺寸量测设备进驻中芯国际(2021-07-02)
稿表示，此次出机仪式，标志着东方晶源继2019年攻克电子束缺陷检测技术后，再一次取得重大产品技术突破，填补了国产关键尺寸量测设备（CD-SEM）的市场空白。
图片来源：东方晶源
据介......
东方晶源电子束检测项目荣登2022“科创中国”先导技术榜单(2023-03-16)
晶源申报的“电子束硅片图形缺陷检测与关键尺寸量测设备关键技术及应用”项目荣登“科创中国”先导技术榜。
“科创中国”系列榜单由中国科协推出,是“科创中国”建设的一项引领性、标志......
3D AI工业外观检测系统：提升质量控制与生产效率的关键技术(2024-03-05)
摄出超过100种缺陷，并首创解决了金属塌边缺陷问题。并可采用调制条纹光检测高反及高透材质的表面缺陷。
2.高敏感度AI检测算法
AI在工业检测中最常见的应用之一是缺陷检测。AI通过训练模型来自动检测和分类各种类型的缺陷......
2022年“科创中国”系列榜单公布 东方晶源上榜(2023-03-10)
2022年“科创中国”系列榜单公布 东方晶源上榜;
日前,2023“科创中国”年度会议上,中国科协正式发布了2022年“科创中国”系列榜单。经初评、终评,遴选公示多个环节,东方晶源申报的“电子束硅片图形缺陷检测......
机器视觉边缘检测算法详解(2023-07-20)
机器视觉边缘检测算法详解;边缘检测相关算法的步骤如下：
1、滤波：边缘检测算法主要是基于图像强度的一阶和二阶导数，但导数的计算对噪声很敏感，因此必须使用滤波器来改善与噪声有关的边缘检测器的性能。需要......
UBSense汽车零部件视觉检测案例(2024-07-11)
等人工智能技术实现对于钣金、玻璃等汽车零部件的外观缺陷检测是大势所趋。检测的缺陷产品包含了产品表面或功能不对称的地方，如划痕、黑点、空隙、色差、杂质、破损、污渍等。
机器视觉技术中，表面外观缺陷检测......
光图智能轮廓测量/缺陷检测系统用实力“说话”(2024-05-08)
光图智能轮廓测量/缺陷检测系统用实力“说话”;如何在快节拍的生产线上实现对挤出制品的高质高效？本文引用地址：
产品轮廓尺寸变化通常表示材料、设备或工序发生了变化，从而导致产品质量低劣、废品......
海康机器人推出DP2000和DP3000系列3D激光轮廓传感器(2023-08-29)
项目现场快速调试和部署。
VM 3D算法平台
VM 3D算法平台是专门为3D高精度定位、测量、缺陷检测设计开发的平台级软件，基于图形化交互、流程......
天准科技发布国内首台40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备(2024-07-16)
天准科技发布国内首台40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备;开启国产半导体高端检测设备新时代近日，天准科技（股票代码：688003.SH）参股的苏州矽行半导体技术有限公司（下文简称"矽行半导体"）宣布......
天准科技发布国内首台40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备(2024-07-15)
设备市场的空白。依托卓越的技术团队和先进的技术实力，逐步打破了KLA等外商对缺陷检测市场的垄断，为国内半导体产业的发展注入了新的活力。 TB1500是矽行半导体最新的研发成果，核心关键部件全部实现自主可控，同时采用了先进的信号处理算法......
国内首台40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备发布(2024-07-16)
取得的阶段性新进展。
资料显示，矽行半导体成立于2021年11月，专注于高端晶圆缺陷检测设备及零部件的研发、生产和销售。本次产品TB1500是矽行半导体最新的研发成果，核心关键部件全部实现自主可控，同时采用了先进的信号处理算法......
机器视觉中的表面缺陷检测有什么用？(2024-08-19)
机器视觉中的表面缺陷检测有什么用？;在工业制造的过程中，不可避免会出现各种各样的生产缺陷。
在过去，大部分产品是通过人工肉眼检查，随着机器视觉技术的不断发展，用机器代替人眼已经成为趋势。
表面缺陷检测......
海伯森发布“雷神之锤”——同轴3D线光谱传感器LCX3000(2023-06-15 11:40)
安全● 传感头和控制器分离，降低温度变化导致的测量误差应用场景可完成对镜面、透明、高反光等几乎所有材质的高精度3D检测，适用于消费电子、半导体、新能源、精密五金等行业的复杂材质检测场景。等离子蚀刻缺陷检测......
海伯森发布“雷神之锤”——同轴3D线光谱传感器LCX3000(2023-06-15 11:40)
安全● 传感头和控制器分离，降低温度变化导致的测量误差应用场景可完成对镜面、透明、高反光等几乎所有材质的高精度3D检测，适用于消费电子、半导体、新能源、精密五金等行业的复杂材质检测场景。等离子蚀刻缺陷检测......
探索前沿技术 推动产业发展，东方晶源受邀参加第七届国际先进光刻技术研讨会(2023-10-30)
with the Introduction of D2DB
Technology》的分享。随着半导体工艺技术的快速发展，使用D2D等传统算法的DR-SEM在对复杂区域、更细微缺陷进行复检时面临挑战。D2DB将设计版图信息作为缺陷检测......
是德科技推出面向半导体制造的键合线(Wire Bonding)检测解决方案(2024-08-29)
是德科技推出面向半导体制造的键合线(Wire Bonding)检测解决方案;
•该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷，全面评估金线键合的完整性
•先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷检测......
是德科技推出面向半导体制造的键合线（Wire Bonding）检测解决方案(2024-08-29)
是德科技推出面向半导体制造的键合线（Wire Bonding）检测解决方案;
该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷，全面评估金线键合的完整性
先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷检测......
海伯森发布“雷神之锤”——同轴3D线光谱传感器LCX3000(2023-06-15)
场景。等离子蚀刻缺陷检测
多层玻璃检测......
基于机器视觉的缺陷检测的原理与方法(2024-08-16)
基于机器视觉的缺陷检测的原理与方法;基于统计分类的方法： （1）基于KNN方法（最近邻法）：利用相似度，找出k个训练样本，然后打分，按得分值排序。 （2）基于Naive Bayes算法：计算......
创科视觉引领革新，助力汽车雷达组装与全检无缝对接(2024-03-26)
引入机器视觉系统，我们可以实现对雷达组装过程中多个关键环节的自动化，包括但不限于：零件有无、组件定位与识别、PCB针脚、外观缺陷检测、尺寸测量等。本文引用地址：
创科视觉雷达项目组装全检测试机
外胆......
基于深度学习识别模型的缺陷检测方法(2024-08-08)
基于深度学习识别模型的缺陷检测方法;一、介绍
缺陷检测被广泛使用于布匹瑕疵检测、工件表面质量检测、航空航天领域等。传统的算法对规则缺陷以及场景比较简单的场合，能够很好工作，但是对特征不明显的、形状......
中导光电纳米级有图形晶圆缺陷检测设备出机客户(2022-08-31)
中导光电纳米级有图形晶圆缺陷检测设备出机客户;日前，由中导光电设备股份有限公司（简称“中导光电”）研发制造的“纳米级有图形晶圆缺陷检测设备”NanoPro-150运交客户工厂。
该客......
是德科技推出面向半导体制造的键合线（Wire Bonding）检测解决方案(2024-08-30 09:40)
是德科技推出面向半导体制造的键合线（Wire Bonding）检测解决方案;• 该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷，全面评估金线键合的完整性• 先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷检测......
浙大集成电路学院新进展：FabGPT大模型(2024-08-28)
作依托于吴汉明院士牵头的浙江省12吋CMOS成套工艺研发平台，通过少样本学习、多模态驱动的垂直领域知识学习和边缘加速器设计这三项核心技术，实现了精确的缺陷检测及根因分析、多模态IC领域......
一文了解昂视3D视觉如何助力电机定子焊道检测(2024-09-06)
部件是定子和转子，运行时静止不动的部分称为定子，主要作用是产生磁场。
电机定子主要是由硅钢片一层层叠加而成，因此需要通过焊接将硅钢片连接起来，焊接过程中会出现凸起、凹陷、断焊、缺焊等缺陷，电机定子焊后缺陷检测......
智能相机EVS非监督算法在高良率汽车产线中的应用(2023-08-15)
出螺栓未涂胶或断胶的异常情况，并进行实时报警。
考虑到对于检测精细程度的要求，故应用阿丘自研的最高精度的分割算法，做像素级的缺陷检测。
03
项目成果
实现螺栓涂胶异常的100%稳定检出，达成过检、漏检......
长光辰芯发布GLT5009BSI-DUV版本，助力半导体缺陷检测(2024-08-19)
长光辰芯发布GLT5009BSI-DUV版本，助力半导体缺陷检测;
【导读】 长光辰芯发布时间延迟积分（TDI）CMOS图像传感器GLT5009BSI深紫外（Deep......
海康机器人的视觉美学：软件与硬件，开放与融合(2023-01-15)
图和亮度图输出；
深度学习缺陷检测：内置于VM算法平台的深度学习缺陷检测应用，将人工智能与深度学习相结合；
ID系列智能读码器：自主研发条形码算法，极小型化体积设计，适用......
传韩国晶圆设备制造商Nextin向中国客户供应第三代晶圆检测设备(2023-11-30)
（用于3D晶圆检查）。
据InvestKorea资料显示，Nextin是韩国唯一的半导体检测设备专业技术企业，主要制售晶圆花纹缺陷检测设备（wafer inspection system），用以检测......
光伏装机规模“狂飙”至87.41GW,机器视觉成保量提质“王牌”?(2023-02-28)
产效率，拉升全线产能最终可帮助客户提高生产效率，保证产品交付；
更精准 缺陷检出率≥99.5%针对人工质检成本高，效率低的难题，VisionBank AI 优秀的全栈算法能力和低门槛操作界面，帮助......
精创半导体检测设备该项目签约，投资总额5亿元(2023-06-14)
设备（AOI）设计制造商。公司致力于发展国产化自有专业AOI品牌，产品领域覆盖玻璃、PCB、光学膜、平面显示器等产业领域，公司主营产品有3D玻璃盖板缺陷检测设备、玻璃应力缺陷检测......
把好叠片检测质量关，康耐视助力提升叠片机生产效率(2023-06-12)
致力于为广大用户提供有竞争力的机器视觉解决方案。锂电行业龙头企业在加速叠片机技术迭代的时候注意到了康耐视的价值。康耐视在极片表面缺陷检测、极片尺寸测量、极耳定位、极片定位纠偏、极片对齐度检测......
机器视觉“全栈式”趋势渐显 AI赋能锂电产线智造变革(2023-10-13)
服务体系。
依靠“1+N+X”多模态特质与底层算法形成合力，iSense AI智能视觉检测系统已形成20000+的视觉系统部署方案，对包括锂电、半导体、3C等不同行业的缺陷检测......
基于VPLC711的XYR运动控制解决方案(2024-01-16)
、方壳电池等多个领域，包括外观缺陷检测、中框抛光打磨、曲面点胶、方壳电池外观检测、电池顶盖激光焊接等应用场景。
传统曲面外观检测解决方案的问题:
在曲面加工过程中，可能会引发一系列品质问题，如划......
AI助力工业领域，给机器装上“眼睛”(2024-05-22)
适配合适的硬件和部署方案，这样算法才能转化为生产力。OpenVINO开源工业缺陷检测的产业应用方案，提供了从数据准备、模型训练及优化的全流程可复用方案，适用于多种制造业场景。
OpenVino是英......
中科院合肥物质科学研究院成功研制BGA芯片外观检测设备(2022-03-25)
中科院合肥物质科学研究院成功研制BGA芯片外观检测设备;近期，中科院合肥研究院智能所仿生智能中心在自主开发的软件平台上实现了3D视觉测量技术、视觉缺陷检测等技术的完美融合，解决了国内首款国产GPU......
东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备CD-SEM交付燕东微电子(2022-04-02)
设备厂商，专注于集成电路领域良率管理，自主研发出计算机光刻软件、电子束缺陷检测设备及关键尺寸量测设备三款产品。目前公司已经和国内大部分主要晶圆代工企业建立了合作关系。
据了解，东方......
德承强固型嵌入式工控机 抢攻Edge AI应用市场(2024-09-12)
GPU卡或PEG GPU卡，为在严苛工业环境中执行大量图像辨识、数据决策及机器学习任务的应用提供运算解决方案。
制造 – 品质控制和缺陷检测
在制造领域中，透过自动光学检测（AOI）结合深度学习技术进行品质控制和缺陷检测......
晶诺微亮相慕尼黑光博会，为半导体工艺提供国产先进量检测设备(2024-04-01 09:43)
于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。
半导体量检测设备晶诺微的半导体量测设备包括光学薄膜测量设备QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备PULSAR系列。QUASAR S系列......
晶诺微亮相慕尼黑光博会，为半导体工艺提供国产先进量检测设备(2024-03-29)
导体量测设备包括光学薄膜测量设备QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备PULSAR系列。
QUASAR S系列应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备，适用于6、8、12......
晶诺微亮相慕尼黑光博会，为半导体工艺提供国产先进量检测设备(2024-03-29)
能制造等领域，适用于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。
半导体量检测设备
晶诺微的半导体量测设备包括光学薄膜测量设备QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测......
浅谈机器视觉检测技术和机器视觉定位技术(2023-09-21)
取出的目标特征与已知的目标特征进行比较，从而找到特定目标在图像或视频中的位置。
机器视觉检测的应用非常广泛，包括但不限于以下几个方面：
1、缺陷检测：如在制造业中检查产品是否存在缺陷。
2、安防监控：如视频监控系统中的目标识别和跟踪，自动......
长光辰芯发布GLT5009BSI－DUV版本，助力半导体缺陷检测(2024-08-19)
长光辰芯发布GLT5009BSI－DUV版本，助力半导体缺陷检测;
长光辰芯发布时间延迟积分（TDI）CMOS图像传感器GLT5009BSI深紫外（Deep Ultraviolet- DUV）增强......
晶诺微亮相慕尼黑光博会，为半导体工艺提供国产先进量检测设备(2024-04-01)
于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。
半导体量检测设备
晶诺微的半导体量测设备包括光学薄膜测量设备QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备PULSAR系列。
QUASAR S系列......
晶诺微亮相慕尼黑光博会，为半导体工艺提供国产先进量检测设备(2024-03-29)
和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备PULSAR系列。
QUASAR S系列应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备，适用于6、8、12吋生产线，产品技术成熟，测量......
采用基于字的检测方法对单向双端口SRAM进行测试(2023-06-19)
以对不同地址的存储单元进行同时读写操作，提高了SRAM的性能。本文分析了单向双端口SRAM的失效模式，并描述了相应的基于字的检测算法。
存储器模型
图1表示了3×3的单向双端口SRAM模块的结构示意图，输入为读地址总线、写地......
相关企业
;北京飞凯曼科技有限公司;;北京飞凯曼科技有限公司是一家专业的表面缺陷检测系统、在线表面缺陷检测系统、视频表面缺陷检测系统、探针台、变温探针台、高低温探针台、霍尔效应测试仪、微波介电常数测试仪、光纤
;北京机器视觉表面缺陷检测设备有限公司;;本公司是一家专业从事机器视觉表面缺陷在线检测研究、设计、加工、安装调试等一条龙服务的公司。 研发部拥有经验丰富的光机电一体化设计师数十名，并以航天院、中科
;射阳县磁力探伤机制造有限公司;;专门从事磁力探伤机的设计和制造，用于铁磁性材料和另部件表面和近表面缺陷检测。江苏省民营科技企业。
;苏州欧普泰新能源科技有限公司;;致力于自动化及太阳能检测设备的科技企业 研发生产: EL检测仪,色差分选,EL缺陷检测仪,太阳能电池片测试仪,太阳能组件测试仪,电池片色差分选机,电池片分选机EL
和控制电路，采用自己研发的图像运动检测算法、自适应噪声滤波技术、基于运动检测的去隔行算法和图像放缩算法等技术，已达到国际先进水平，被深
;东莞龙顺自动化有限公司;;龙顺科仪集团有限公司是一家专门研制，开发和生产各种自动化视觉系统、视觉软件、视觉表面检测、自动尺寸测量、模式识别、缺陷检测的生产商。我司
产品附加值，提升自身竞争力，参与国际市场竞争。公司将长期从事图形图像应用领域的研究开发，提供尺寸测量、缺陷检测、模式识别、动态跟踪与三维立体视觉技术等在内的核心图像算法及解决方案。应用
家由归国留学人员创办的高新技术企业，是“北京中关村百家试点企业”、“火炬计划实施企业”。公司自成立以来始终秉承“科技强国、实业报国”的理念，现已发展成为集 优纳科技还为全球大多数半导体设备商和LCD生产商提供包括晶圆缺陷检测
;广州信弘公司;;亮度 1000CD/MM 中间<500CD/MM 四角<250-300/MM 1000CD/MM 亮度和对比度密不可分,在这两项指标上,等离子似乎技高一筹,这是由于等离子全白全黑的测算
;上海思韦自动化系统有限公司;;上海思韦自动化系统有限公司是一家Omron、东方马达、信侬马达、自动对位曝光框、自动对位丝网框、LED电源控制、一次性针杆缺陷检测机、UVW平台