晶圆缺陷检测设备

中导光电纳米级有图形晶圆缺陷检测设备出机客户;日前，由中导光电设备股份有限公司（简称“中导光电”）研发制造的“纳米级有图形晶圆缺陷检测设备”NanoPro-150运交客户工厂。 该客...

国内首台40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备发布;近日，天准科技参股的苏州矽行半导体技术有限公司（以下简称“矽行半导体”）宣布，公司面向40nm技术节点的明场纳米图形晶圆缺陷检测设备TB1500已完...

天准科技发布国内首台40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备;开启国产半导体高端检测设备新时代近日，天准科技（股票代码：688003.SH）参股的苏州矽行半导体技术有限公司（下文简称"矽行半导体"）宣布...

天准科技发布国内首台40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备;开启国产半导体高端检测设备新时代 中国苏州2024年7月15日 /美通社/ -- 近日，天准科技（股票代码：688003.SH）参股...

中导光电纳米级图形晶圆缺陷光学检测设备再次交付功率半导体头部客户;近日，中导光电设备股份有限公司（以下简称“中导光电”）纳米级图形晶圆缺陷光学检测设备（NanoPro-150）再次...

平面CMOS工艺的量测，并可以延伸支持上述先进工艺节点的快速线宽测量。12寸全自动电子束晶圆缺陷复查设备（Review SEM）是全自动晶圆在线电子束缺陷复查和分类设备，对光学缺陷检测设备...

展历程看，中科飞测于2014年12月成立；2016年第一台无图形晶圆缺陷检测设备进入国内头部客户产线验证；2017年产品进入国内第一大先进封装厂；2018年，承担科技部“国家科技重大专项02专项...

简称“深圳中科飞测”）的全资子公司。深圳中科飞测成立于2014年，是国内高端半导体检测和量测设备厂商，目前公司已成功推出了无图形晶圆缺陷检测设备、图形晶圆缺陷检测设备、三维形貌量测设备、薄膜膜厚量测设备...

的研发、生产和销售，产品主要包括无图形晶圆缺陷检测设备系列、图形晶圆缺陷检测设备系列、三维形貌量测设备系列、薄膜膜厚量测设备系列等产品，已应...

谱响应、低噪声等优异性能，DUV版本的应用领域进一步得到拓展，为半导体晶圆缺陷检测、半导体材料缺陷检测等应用提供更高效率、精准的检测...

（用于3D晶圆检查）。 据InvestKorea资料显示，Nextin是韩国唯一的半导体检测设备专业技术企业，主要制售晶圆花纹缺陷检测设备（wafer inspection system），用以检测...

与持续改进计划，帮助汽车芯片与器件在生产的过程中实现全流程的缺陷检测。持续改进计划（CIP）利用无图案的晶圆缺陷检测来识别导致缺陷的特定制程设备。借助监控CIP的设备，汽车芯片制造厂可以设定客观目标，减少影响可靠性的制程缺陷...

厂商，专注于集成电路领域良率管理，自主研发出计算机光刻软件、电子束缺陷检测设备及关键尺寸量测设备三款产品。目前公司已经和国内大部分主要晶圆代工企业建立了合作关系。 据了解，东方...

于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。 半导体量检测设备晶诺微的半导体量测设备包括光学薄膜测量设备QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备PULSAR系列。QUASAR S系列应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备...

能制造等领域，适用于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。 半导体量检测设备 晶诺微的半导体量测设备包括光学薄膜测量设备QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备...

QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备PULSAR系列。 QUASAR S系列应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备，适用于6、8、12...

于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。 半导体量检测设备 晶诺微的半导体量测设备包括光学薄膜测量设备QUASAR S系列和晶圆厚度及翘曲度测量设备ZMET，检测设备包括缺陷检测设备PULSAR系列。 QUASAR S系列应用于集成电路芯片制造生产线上的光学膜厚测量设备...

安全性和促进技术进步都具有重要意义。晶诺微缺陷检测设备PULSAR系列包括L系列和H系列，PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的如WLP（晶圆级封装）、PLP（面板级封装）、晶圆...

稿表示，此次出机仪式，标志着东方晶源继2019年攻克电子束缺陷检测技术后，再一次取得重大产品技术突破，填补了国产关键尺寸量测设备（CD-SEM）的市场空白。 图片来源：东方晶源 据介...

声等优异性能，DUV版本的应用领域进一步得到拓展，为半导体晶圆缺陷检测、半导体材料缺陷检测等应用提供更高效率、精准的检测支持。目前，在半导体晶圆检测系统中大多使用266nm的激光器。为了应对266nm下的晶圆检测...

构建了大模型应用于集成电路智造的新范式。 随着集成电路制造工艺的不断演进和超高密度集成技术的发展，FabGPT作为一种创新的集成电路设计工艺协同优化大模型，将在未来的制造领域发挥重要作用。未来，FabGPT不仅能够在晶圆缺陷检测...

。它还推出了AEGIS，这是一种用于检测晶圆缺陷的设备。 据悉，Nextin去年第三季度实现营收347亿韩元，营业利润144亿韩元，分别比2023年增长141%和172%。 封面...

资由临芯投资领投，启资本继续跟投。融资资金计划用于研发投入、推进第一代产品量产，及团队扩充和建设。 公开资料显示，微崇半导体成立于2021年，总部位于上海，系半导体检测设备研发生产商，可实现对晶圆...

和销售，产品主要包括无图形晶圆缺陷检测设备系列、图形晶圆缺陷检测设备系列、三维形貌量测设备系列、薄膜膜厚量测设备系列等产品，已应用于国内28nm及以上制程的集成电路制造产线。 2019年-2022年上...

研发团队实现了中束流、大束流、高能、特种应用及第三代半导体等全谱系离子注入机自主创新发展，大幅缩小了与国际一流水平差距。 中导光电新设备出机客户 近日，由中导光电研发制造的“纳米级有图形晶圆缺陷检测设备...

（AOI）设计制造商。公司致力于发展国产化自有专业AOI品牌，产品领域覆盖玻璃、PCB、光学膜、平面显示器等产业领域，公司主营产品有3D玻璃盖板缺陷检测设备、玻璃应力缺陷检测设备...

。 值得注意的是，除了上述企业，近期国内半导体设备市场势如破竹，传来多条新消息：研微半导体首台ALD设备交付大客户；中导光电获得8英寸碳化硅晶圆缺陷检测设备订单；功率半导体核心封装设备...

晶源申报的“电子束硅片图形缺陷检测与关键尺寸量测设备关键技术及应用”项目荣登“科创中国”先导技术榜。 “科创中国”系列榜单由中国科协推出,是“科创中国”建设的一项引领性、标志...

2022年“科创中国”系列榜单公布 东方晶源上榜; 日前,2023“科创中国”年度会议上,中国科协正式发布了2022年“科创中国”系列榜单。经初评、终评,遴选公示多个环节,东方晶源申报的“电子束硅片图形缺陷检测与关键尺寸量测设备...

，这种方法采用非接触的工作方式，安装灵活，测量精度和速度都比较高，同一台机器视觉检测设备可以实现对不同产品的多参数检测，为企业节约大笔设备开支。       2 表面缺陷检测...

天准科技股份有限公司半导体事业部副总经理阎海滨带来《国产明场纳米图形晶圆缺陷检测设备助力集成电路制造良率提升》主题演讲，分享了半导体工艺的演变、以及天准科技在检测和量测方面的布局等。半导...

确性将直接影响产品的最终质量。 由于人工检测方法长期以来不能满足生产和现代技术制造的需要，而机器视觉检测的使用可以很好地克服这一问题，表面缺陷检测设备的应用越来越广泛。 ...

均已取得国内多家客户的批量订单，此外明场光学缺陷检测设备已完成首台套交付及验收，且已取得更先进制程订单，有图形暗场缺陷检测设备等其余储备的产品目前正处于研发、认证以及拓展的过程中。 提高...

、电子束缺陷复查设备、图形晶圆缺陷检测设备，中科飞测的图形与无图形晶圆缺陷检测设备、膜厚测量设备、三维形貌测量设备，均已取得订单或在客户产线验证通过。 高端半导体检测...

、电子束缺陷复查设备、图形晶圆缺陷检测设备，中科飞测的图形与无图形晶圆缺陷检测设备、膜厚测量设备、三维形貌测量设备，均已取得订单或在客户产线验证通过。 高端半导体检测...

中科院合肥物质科学研究院成功研制BGA芯片外观检测设备;近期，中科院合肥研究院智能所仿生智能中心在自主开发的软件平台上实现了3D视觉测量技术、视觉缺陷检测等技术的完美融合，解决了国内首款国产GPU...

增资完成后，上海睿励注册资本增加至4.28亿元，公司持有上海睿励股权比例为20.4467%。 资料显示，上海睿励成立于2005年6月，致力于集成电路生产前道工艺检测领域设备研发和生产，主营产品为光学膜厚测量设备和光学缺陷检测设备以及硅片厚度及翘曲测量设备...

研发及制造的科技创新型企业，致力于为光刻工艺的大批量生产提供以套刻误差为代表的量测设备及其他缺陷检测设备，拥有国内顶尖的技术开发能力和坚实的设备量产经验。 封面...

资本3.45亿元人民币，公司主营的产品为光学膜厚测量设备和光学缺陷检测设备，以及硅片厚度及翘曲测量设备等。上海睿励自主研发的12英寸光学测量设备TFX3000系列产品，已应用在65/55/40/28纳米...

技术落后的处境，国内企业在加速追赶——上海精测、中科飞测等在前道量测设备领域取得了一定的进展。值得一提的是，前不久，中导光电的纳米级图形晶圆缺陷光学检测设备（NanoPro-150）实现了再次交付。 封面...

的研发及生产。上海精测膜厚产品（含独立式膜厚设备）、电子束量测设备已取得国内一线客户的批量订单；明场光学缺陷检测设备已取得突破性订单；OCD设备也获得国内一线客户验证通过，半导体硅片应力测量设备...

摄出超过100种缺陷，并首创解决了金属塌边缺陷问题。并可采用调制条纹光检测高反及高透材质的表面缺陷。 2.高敏感度AI检测算法 AI在工业检测中最常见的应用之一是缺陷检测。AI通过训练模型来自动检测和分类各种类型的缺陷...

不断加强投资自有产品开发以求推出更贴近客户需求的解决方案，此次透过并购南方科技，加速自有产品的发展进程，让蔚华从半导体封测设备跨足光学检测，首先锁定极具前景的第三代半导体材料缺陷检测，对客户、员工...

直致力开发性能优异的碳化硅切割解决方案。 昂坤视觉 本次展会，昂坤视觉带来了旗下最新的化合物半导体的衬底和外延片的缺陷检测方案。公开资料显示，昂坤视觉成立于2017年，是一家光学测量及检测设备生产商，产品国际闻名。其致力于为化合物半导体光电和集成电路产业提供光学测量和光学检测设备...

等材料的加工工艺，并一直致力开发性能优异的碳化硅切割解决方案。 昂坤视觉 本次展会，昂坤视觉带来了旗下最新的化合物半导体的衬底和外延片的缺陷检测方案。公开资料显示，昂坤视觉成立于2017年，是一家光学测量及检测设备...

存储两项新的专利近日也得到曝光，分别是“一种晶圆缺陷分析方法、系统、设备和介质”专利、“存储芯片的测试方法及装置”专利。 长鑫存储“一种晶圆缺陷分析方法、系统、设备和介质”专利获授权 天眼查显示，长鑫...

项目现场快速调试和部署。 VM 3D算法平台 VM 3D算法平台是专门为3D高精度定位、测量、缺陷检测设计开发的平台级软件，基于图形化交互、流程...

睿励成立于2005年6月，致力于集成电路生产前道工艺检测领域设备研发和生产，主营产品为光学膜厚测量设备和光学缺陷检测设备以及硅片厚度及翘曲测量设备等，是国内少数几家进入国际领先的12英寸...

beam writer)。随后通过显影和蚀刻将图形转移并固定到光罩上，并通过量测设备确定图形的位置精度(registration)和特征尺寸(critical dimension)，之后进行缺陷检测...

公司将获得中国政府的补贴。 Nextin在中国的客户一直要求这家晶圆设备制造商在当地生产。目前该公司向芯片制造商SK海力士供应其3D晶圆检测设备IRIS-II。它还推出了AEGIS，这是一种用于检测晶圆缺陷的设备。 此外...