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得到材料表面的形貌信息。 - 应用范围：SEM 分析适用于各种材料，可以观察到材料表面的微观结构、缺陷、颗粒分布等。SEM 分析还可以与其他分析技术结合使用，如 EDS、WDS 等，对材料的成分进行分析......
;EDS（扫描电子显微镜&能谱仪）分析 2.1 对上锡不良的引脚表面进行SEM&EDS[1]分析，发现： 1）上锡不良的区域有颗粒状的形状，EDS 主要检查到Sn、Ag、Cu 元素，其中Ag......
环旭电子发展先进失效分析技术 应对SiP微小化高阶产品需求; 在5G、消费电子、车载电子和创新智能应用的带动下，以SiP为代表的新型封装技术逐渐兴起，高可靠性元器件和半导体市场迎来高密度、小型......
环旭电子发展先进失效分析技术 应对SiP微小化高阶产品需求;在5G、消费电子、车载电子和创新智能应用的带动下，以SiP为代表的新型封装技术逐渐兴起，高可靠性元器件和半导体市场迎来高密度、小型......
系统“JIB-PS500i”。 FIB-SEM 系统“PS500i”（照片：美国商业资讯） 随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化，形态观察、元素分析等评价技术......
JEOL推出高精度和高分辨率的FIB－SEM系统“JIB－PS500i”; 【导读】随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化，形态观察、元素分析等评价技术......
楚地反映和记录材料的表面形貌特征，因此成为表征材料形貌最为便捷的手段之一。 配合氩离子抛光技术（又称 CP 截面抛光技术），SEM可以完成对样品内部结构微观特征的观察和分析。这也......
，可以实现拉曼成像与 SEM 等技术的联合应用，通过电池表面形貌（SEM）、元素分布（EDS）与电极材料分子组成信息（Raman 图谱）结合，实现材料的原位多角度分析，了解......
污染度测试 ROSE、傅里叶变换红外光谱法 FTIR、涂覆可靠性测试 CoRe test、颗粒物测定/技术清洁度 Technical Cleanliness、扫描电子显微镜/X射线能谱分析仪(SEM/EDS)、X射线......
污染度测试 ROSE、傅里叶变换红外光谱法 FTIR、涂覆可靠性测试 CoRe test、颗粒物测定/技术清洁度 Technical Cleanliness、扫描电子显微镜/X射线能谱分析仪(SEM/EDS)、X射线......
tiny4412 串口驱动分析五 --- LDD3上TTY驱动程序源码;Makefile： # Comment/uncomment the following line to disable......
协同调试。 ·包括DS-5流线性能分析器，使得来自SoC和FPGA的软件线程和事件信息与硬件计数器相关联，可发现系统级瓶颈并进行校正。 价格和供货信息 2012年12月13号在巴黎举行的ARM技术......
《linux驱动：s3c2410_ts/s3c2440_ts模块加载流程》; 前言 通过分析s3c2410_ts/s3c2440_ts模块加载流程，分析linux驱动中的总线-设备-驱动......
TechInsights对于“碳化硅JFETs原子探针层析成像”的探讨;去年，通过一系列博客展示了电气特性的力量，对于揭示碳化硅器件规格书远远不能提供的碳化硅器件特性。本文引用地址：分析半导体掺杂的技术......
揭示器件规格书远远不能提供的器件特性。 分析半导体掺杂的技术多种多样，例如： · 扫描式电容显微镜(SCM )，我们经常将它包含在我们的功耗报告中，这为我们提供了大面积的相对掺杂物分析。 · 扫描式电阻测定(SRP......
揭示碳化硅器件规格书远远不能提供的碳化硅器件特性。 分析半导体掺杂的技术多种多样，例如： • 扫描式电容显微镜（SCM ），我们经常将它包含在我们的功耗报告中，这为我们提供了大面积的相对掺杂物分析。 • 扫描......
DigiKey 在 2023 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多项大奖; 全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商 DigiKey 日前宣布，在 5 月 16 日至......
DigiKey 在 2023 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多项大奖;全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商 DigiKey 日前宣布，在 5 月 16 日至 19......
DigiKey 在 2023 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多项大奖;全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商 DigiKey 日前宣布，在 5 月 16 日至 19......
-SEM均为国内首台，填补国内相关领域空白。 计算光刻软件领衔，芯片制造EDA工具再添两个新成员 东方晶源计算光刻软件PanGen，打破国外技术垄断，是国......
的开发、硅片（外延片）加工技术开发、检测分析技术开发与应用。研发技术团队将服务半导体硅单晶相关的晶体成型、硅片（外延片）加工的工艺技术以及监测分析技术研究开发与应用。研究......
关于机器人的电机位置测量元件;分解器:分解器用于分析处理轴的当前位置，是一种旋转式行程测量系统。 1转子 2定子 3 正弦线圈和余弦线圈 4 转子线圈 5 旋转式变压器 转子 （3）通过......
2-5所示。 图2-5添加子站节点 步骤7，分配节点名称导入对应EDS文件，点击设备概览中所添加的节点，可对其进行命名（该演示内使用默认名称）。此时在属性可进行EDS文件操作，点击Import......
《Linux驱动：s3c2440 lcd 驱动分析》;一，前言 s3c2440 lcd 驱动分析，涉及到的内容有，LCD图像显示原理、s3c2440的LCD控制器的操作、LCD驱动使用平台总线-设备......
了超低的亚阈值摆幅，降低了漏电，改善了器件的均一性和良率。 图1：Ga2O3功率二极管界面TEM图、EDS元素分析及其电学测试结果 相关成果以“Improvement of β-Ga2O3 MIS-SBD......
testing  */   MODULE_LICENSE('GPL');   static int MAJOR_NUM=0; static struct semaphore sem; static int......
得到信号量的进程才能执行临界区代码。 当获取不到信号量时，进程进入休眠等待状态。     定义信号量 struct semaphore sem; 初始化信号量 void sema_init (struct semaphore *sem......
DigiKey 在 2024 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多个最高奖项; 全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和产品分销商 DigiKey 日前宣布，在 5 月 21 日至 23......
罗姆与Quanmatic公司利用量子技术优化制造工序并完成验证;～双方在大型半导体制造工厂取得先进成果，目标是2024年4月正式应用于EDS工序中*1～ 全球知名半导体制造商罗姆（总部......
传感器等。 2.4 数据处理与分析技术 数据处理与分析技术是实现汽车防盗监控系统智能化的关键技术。通过数据处理与分析技术，可以对车辆状态数据进行实时分析，实现异常行为的识别与报警。 3. 汽车......
东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备CD-SEM交付燕东微电子;4月1日，东方晶源微电子科技（北京）有限公司（以下简称“东方晶源”）宣布，东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备（CD-SEM）已于......
罗姆与Quanmatic公司利用量子技术优化制造工序并完成验证; 双方在大型半导体制造工厂取得先进成果，目标是2024年4月正式应用于EDS工序中*1。 全球知名半导体制造商罗姆（总部......
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麦格纳获得专用电驱动系统业务新订单; 新的电动化项目将支持高端细分汽车平台 后轮主驱系统基于麦格纳800V双电机电驱动技术 eDS Duo开发，可提供卓越的动力和性能 该合......
证明东方晶源在电子束检测领域具有创新性、战略性、引领性、突破性,技术达到一定成熟度。 电子束缺陷检测设备(EBI)和关键尺寸量测设备(CD-SEM)是制造中用于良率监控的关键设备,对于......
证明东方晶源在电子束检测领域具有创新性、战略性、引领性、突破性,技术达到一定成熟度。 电子束缺陷检测设备(EBI)和关键尺寸量测设备(CD-SEM)是制造中用于良率监控的关键设备,对于......
自动电子束晶圆缺陷复查设备（Review SEM）顺利出机。 上海精测半导体母公司精测电子7月13日披露的投资者调研纪要中指出，上述两款出机产品的客户为晶圆代工厂商中芯国际。前不久，东方晶源首台关键尺寸量测设备（CD-SEM......
解决方案、基于标识解析技术的工业设备监控运维解决方案。 质量码产业数字化与品牌提升APP应用解决方案基于区块链技术，构建质量码公共服务平台，以工业APP为抓手，赋能工业企业数字化转型与品牌升级。该方......
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STM32H743的FDCAN发送线程卡死的处理方法;芯片型号STM32H743IIT6，测试时发现如果外面没有连接CAN设备，程序调用CAN发送时会一直等待发送反馈，导致相关线程挂起。 分析......
稿表示，此次出机仪式，标志着东方晶源继2019年攻克电子束缺陷检测技术后，再一次取得重大产品技术突破，填补了国产关键尺寸量测设备（CD-SEM）的市场空白。 图片来源：东方晶源 据介......
矿山人、财、物等资源的合理配置，以及矿山安全管理、效益管理和成本管理的高度统一。基于标识解析技术的工业设备监控运维解决方案提供便捷设备接入、数据采集分析、智能分析及场景化应用等全流程产品和服务，助力......
矿山人、财、物等资源的合理配置，以及矿山安全管理、效益管理和成本管理的高度统一。基于标识解析技术的工业设备监控运维解决方案提供便捷设备接入、数据采集分析、智能分析及场景化应用等全流程产品和服务，助力......
IPC 白皮书强调数据分析对电子制造流程的关键重要性;IPC首席技术专家委员会（CTC）最新发布的白皮书《电子制造业数据分析展望》指出，电子制造业日益复杂，需要采用数据分析技术来管理电子工厂。多种......
SMT焊点不良失效分析技术......
测量软件在 Wi-Fi 7 测试中发挥重要作用;这个世界允许无线连接缺席哪怕一天吗？大部分情况下无法做到，因为我们的日常活动大都依赖于无线通信技术。无论是工作、上学还是日常通信，无线......
int MAJOR_NUM=0; static struct semaphore sem; static int global_var = 0; static int global_var_count......
semaphore sem; 初始化信号量 void sema_init (struct semaphore *sem, int val); void init_MUTEX(struct......
DigiKey 在 2024 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多个最高奖项;全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商DigiKey日前宣布，在 5 月 21 日至 23......
翔先生还展望了购买TESCAN的FIB-SEM之后，将进一步提升芯片的品质，更好地服务海内外客户。 技术承载，一路前行  TESCAN的全球化布局 经过几十年的积累沉淀， TESCAN已发......

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、滤袋等相关设备； 国内首家自主研发的微波单层电容器；扫描电子显微镜/电镜(SEM EDS)； X射线能谱仪(EDS),X射线波谱仪(WDS),X射线能谱-波谱一体化系统 (EDS+WDS)； 英国
上海凯悦电子科技有限公司
污染测试仪OMEGA600，德国IKA磁力搅拌测试仪，日本电子SEM/牛津EDS等公司在中国的代理公司，现已与世界多家分析仪器制造厂商建立了长期稳定的贸易往来关系。凭着多年的行业优势、信息积累，市场开发的经验，在 PCB