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某锂电池不充电，PCB微短路。本文通过显微热红外测试（Thermal EMMI）定位失效位置，通过电性能测试、X-ray、切片分析和SEM等分析......
系统“JIB-PS500i”。 FIB-SEM 系统“PS500i”（照片：美国商业资讯） 随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化，形态观察、元素分析......
JEOL推出高精度和高分辨率的FIB－SEM系统“JIB－PS500i”; 【导读】随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化，形态观察、元素分析......
;EDS（扫描电子显微镜&能谱仪）分析 2.1 对上锡不良的引脚表面进行SEM&EDS[1]分析，发现： 1）上锡不良的区域有颗粒状的形状，EDS 主要检查到Sn、Ag、Cu 元素，其中Ag......
《linux驱动：s3c2410_ts/s3c2440_ts模块加载流程》; 前言 通过分析s3c2410_ts/s3c2440_ts模块加载流程，分析linux驱动中的总线-设备-驱动......
了计量学的需求以及持续的缩放。 混合计量方法，它将在未来盛行，因为没有一种技术可以解决所有需要的参数和测量。 更快的测量，这需要更亮的光源和更多的通道来提供更多的数据进行处理。 理想情况下，计量系统利用人工智能和深度学习工具进行智能数据分析......
tiny4412 串口驱动分析五 --- LDD3上TTY驱动程序源码;Makefile： # Comment/uncomment the following line to disable......
《Linux驱动：s3c2440 lcd 驱动分析》;一，前言 s3c2440 lcd 驱动分析，涉及到的内容有，LCD图像显示原理、s3c2440的LCD控制器的操作、LCD驱动使用平台总线-设备......
量晶粒大小、相组成比例等。金相分析软件还可以与数据库结合使用，对材料的组织和性能进行评估。 4. 热处理评估 - 根据......
楚地反映和记录材料的表面形貌特征，因此成为表征材料形貌最为便捷的手段之一。 配合氩离子抛光技术（又称 CP 截面抛光技术），SEM可以完成对样品内部结构微观特征的观察和分析。这也......
抛光技术），SEM可以完成对样品内部结构微观特征的观察和分析。这也是目前最有效的制备锂电池材料极片解剖截面的制样方式。 SEM还可以用来观测电池颗粒循环老化的情况。目前，经分析发现，颗粒......
的可视化之外，APT数据还可以揭示有趣的细节，例如掺杂剂对缺陷的分离、纳米尺度特征和界面的浓度分布、局部成分等。反过来，这些信息可以提供对器件性能/故障及其制造工艺的宝贵分析。   图1：CCEM的......
仪表有助于研究各种材料的纳米特性和现象，包括金属、合金、半导体、陶瓷、矿物甚至生物材料。 特别是对于半导体器件的分析，除了元素的定量3D映射和各种层/界面的可视化之外，APT数据还可以揭示有趣的细节，例如......
所示。   图4：可用于APT分析的Si JFET样品SEM图像 当前研究的目标是量化SiC JFET沟道中的p型掺杂剂，并且显现其在沟道中的3D分布。两次成功的APT实验分别收集了3400万和......
产品技术细节，与展台工作人员深入探讨合作机会，共同寻求未来发展的新机遇。 DR-SEM正式亮相，电子束检测量测领域领先优势再扩大 本次展会，东方晶源电子束缺陷复检设备DR-SEM（型号......
文等多语言的友好用户界面 • 支持直流供电，方便外场使用 • 尺寸小重量轻，功耗仅15W • 赠送FSC View软件，方便测量数据的后期处理 应用领域： • 通用频谱测量 • 标量网络分析 • EMI辐射/传导......
);rt_sem_release(pub->tp->sem);return 1;}/@brief 获取消息 @param sub 订阅者实例指针@param data 数据指针,接收......
R&S FSC3台式频谱分析仪的主要特点及应用范围;罗德与施瓦茨的R&S®FSC是一款高性价比，小体积的台式频谱分析仪，它具备罗德与施瓦茨一贯的高品质，可以满足所有重要的频谱分析任务。R......
testing  */   MODULE_LICENSE('GPL');   static int MAJOR_NUM=0; static struct semaphore sem; static int......
得到信号量的进程才能执行临界区代码。 当获取不到信号量时，进程进入休眠等待状态。     定义信号量 struct semaphore sem; 初始化信号量 void sema_init (struct semaphore *sem......
流偏置电源• 全系标配THD/OBW/ACLR/SEM/信道功率/门控触发扫描等测量功能• 选配全功能双端口网络分析、电缆断点分析与矢量电压表• 选配频谱瀑布图功能，捕获与记录偶发信号• 选配WCDMA......
了人体汗液中左旋多巴、维生素C和体温的快速检测分析，具有重要的应用前景。相关研究成果以“Finger-actuated wireless-charging wearable multifunctional......
高强度光从低反射金字塔结构（底部）生成有效信号。 Zeta太阳能金属栅线程式可以自动测量和分析金属栅线，并根据多个横截面的数据分析太阳能金属栅线的平均高度、宽度、面积和体积等。  此外，Zeta具有......
自动电子束晶圆缺陷复查设备（Review SEM）顺利出机。 上海精测半导体母公司精测电子7月13日披露的投资者调研纪要中指出，上述两款出机产品的客户为晶圆代工厂商中芯国际。前不久，东方晶源首台关键尺寸量测设备（CD-SEM......
STM32H743的FDCAN发送线程卡死的处理方法;芯片型号STM32H743IIT6，测试时发现如果外面没有连接CAN设备，程序调用CAN发送时会一直等待发送反馈，导致相关线程挂起。 分析......
展历史  无线局域网（WLAN）产品和系统从 802.11b、802.11g 和 802.11a 标准开始，提供了比 1997 年引入的原始 802.11 标准更高的吞吐量。无线技术借助最新科技不断演进，以满足新应用的要求和对更高数据......
int MAJOR_NUM=0; static struct semaphore sem; static int global_var = 0; static int global_var_count......
semaphore sem; 初始化信号量 void sema_init (struct semaphore *sem, int val); void init_MUTEX(struct......
展历史 无线局域网（WLAN）产品和系统从 802.11b、802.11g 和 802.11a 标准开始，提供了比 1997 年引入的原始 802.11 标准更高的吞吐量。无线技术借助最新科技不断演进，以满足新应用的要求和对更高数据......
东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备CD-SEM交付燕东微电子;4月1日，东方晶源微电子科技（北京）有限公司（以下简称“东方晶源”）宣布，东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备（CD-SEM）已于......
证明东方晶源在电子束检测领域具有创新性、战略性、引领性、突破性,技术达到一定成熟度。 电子束缺陷检测设备(EBI)和关键尺寸量测设备(CD-SEM)是制造中用于良率监控的关键设备,对于......
证明东方晶源在电子束检测领域具有创新性、战略性、引领性、突破性,技术达到一定成熟度。 电子束缺陷检测设备(EBI)和关键尺寸量测设备(CD-SEM)是制造中用于良率监控的关键设备,对于......
Altair 宣布推出全新数据分析与人工智能平台 Altair RapidMiner;实现更加敏捷、协同化的端到端数据分析全方位解决方案Altair（纳斯达克股票代码：ALTR）近日宣布将全套数据分析......
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(TYPE, MEMBER) ((size_t) &((TYPE *)0)->MEMBER)先分析一下这个宏的运行机理：一共4步 1. ( (TYPE *)0 ) 将零转型为TYPE类型......
东方晶源首台关键尺寸量测设备进驻中芯国际;东方晶源官方消息显示，6月30日，东方晶源在北京总部隆重举行国内首台关键尺寸量测设备（CD-SEM）出机仪式，正式宣布斩获订单并出机中芯国际。 新闻......
/OBW/ACLR/SEM/信道功率/门控触发扫描等测量功能 • 选配全功能双端口网络分析、电缆断点分析与矢量电压表 • 选配频谱瀑布图功能，捕获与记录偶发信号 • 选配WCDMA/CDMA2000......
实施混合式数据分析平台的三个步骤;过去八年间，数据中台及其“统一数据、统一服务、统一身份（One data, one service, one ID）”理念的广泛采用，推动了中心化数据......
实施混合式数据分析平台的三个步骤;过去八年间，数据中台及其“统一数据、统一服务、统一身份（One data, one service, one ID）”理念的广泛采用，推动了中心化数据......
制造一体化良率提升解决方案HPOTM由俞宗强博士在2014年创建东方晶源伊始首次提出。经过近十年的不懈努力，该理念已在电子束图像系统(SEM)、计算光刻(OPC)和布局布线技术(P&R)等核......
公司（TESCAN CHINA）与厦门乾照光电股份有限公司联合宣布了一项重要的合作协议，乾照光电将向TESCAN采购一台型号为LYRA3 XMH的FIB-SEM（双束聚焦扫描电子显微镜系统）！ 当日，双方......
Altair 收购 RapidMiner，持续丰富数据分析产品系列;关键技术扩大了数据分析业务线的范围和规模近日， Altair（纳斯达克股票代码：ALTR）与高级数据分析与机器学习 (ML) 软件......
Altair 正式推出全新数据分析与人工智能平台Altair RapidMiner;数据科学，解码智能未来Altair发布数据分析与人工智能平台Altair RapidMiner，希望......
日立高新技术公司部宣布推出其GT2000高精度电子束测量系统;技术公司宣布推出其GT2000高精度电子束测量系统。GT2000利用技术在CD-SEM*1方面的技术和专业知识，在那......
新思科技推出业界首个全栈式大数据分析解决方案，持续强化Synopsys.ai EDA平台;该AI驱动型数据分析解决方案能够挖掘未开发的、具有可操作的洞察，以提高芯片设计、制造、测试......
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颀中科技合肥研发中心启用！;据合肥统战消息，6月18日，颀中科技合肥研发中心启用活动举办。该中心引进国内首批全自动金电镀机机台、国产顶尖SEM分析设备等，具备从材料到设备全链条国产化的基础条件。未来......
种传统方法在处理先进等离子工艺复杂的物理和化学相互作用时都有其局限性。 广告 泛林数据分析仪：经过验证的解决方案 泛林集团Equipment Intelligence®（设备......
如何用FAMOS提升数据分析效率？; 先睹为快：研讨会内容速览|12月10日(周二) 下午3-4点 您是否： 为如何整理海量数据而苦恼？ 为数据分析......
IPC 白皮书强调数据分析对电子制造流程的关键重要性;IPC首席技术专家委员会（CTC）最新发布的白皮书《电子制造业数据分析展望》指出，电子制造业日益复杂，需要采用数据分析技术来管理电子工厂。多种......
泰瑞达引入实时分析解决方案至测试流程;集成了先进数据分析解决方案的安全边缘平台，实现测试流程的优化 2023年8月2日，中国 北京讯 —— 全球先进的自动测试设备供应商泰瑞达今日宣布，推出......

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