葫芦电子社区-电子元器件库存搜索引擎，为您网罗全球厂商代理商库存

资讯

微代码以进一步修复这一问题。 据社区帖子所述，处理器的Vmin Shift最小工作电压偏移不稳定问题，主要是由于CPU核心部分的时钟树电路在高电压和高温度环境下的可靠性老化。 这种老化......
将为大家总结如今汽车生态系统的四大特征： CFD：Computational Fluid Dynamics，计算流体力学 FuSa：Functional Safety，功能安全 Aging：不仅仅代表老化，在汽车领域，Aging 是指......
、Pad等应用中的CPU供电，利用超薄特性改善设备散热风道。  ●   服务器、AI服务器等大电流、超薄应用中的CPU、GPU及周边电路供电，超薄大电流可对应对VRM及TLVR供电......
简要介绍Sunlord专有铜磁共烧工艺的超薄型超大电流功率电感HTF系列。               产品特点 拥有无可比拟的超薄优势 高可靠性 工作温度范围宽，无长时间高温老化......
实验室AVL认证，验证该系列产品适配并兼容Intel CPU及主板。佰维RD100系列严格按照JEDEC标准进行设计生产，并通过全方位质量管控，实现产品的高质量与高可靠性，兼容主流CPU、主板与操作系统，广泛......
据组成，DTC命名方式等信息。 DEM支持的DTC类型如下： DTC的故障类型如下： ● 硬件故障：如RAM、Flash、CPU时钟等硬件本身失效的问题 ● 软件故障：如配置字故障，标定......
实验室”为目标，建成后将具备大规模集成电路测试筛选、可靠性试验、功能性测试及破坏性物理分析等测试能力，为高端装备与轨交、军工及航空航天等客户提供集成电路产品测试、分析、验证、老化......
连接测试和测试程序下载 通过SPI口串行下载命令读取被测主板CPU的特征码，通过识别判断为AT89S52芯片（麻将机主机板选用的单片机型号），即认为被测主板已连接上。因对于SST89E58单片......
主板的 SPI连接测试和测试程序下载 通过SPI口串行下载命令读取被测主板CPU的特征码，通过识别判断为AT89S52芯片（麻将机主机板选用的单片机型号），即认为被测主板已连接上。因对于SST89E58单片......
实验室AVL认证，验证该系列产品适配并兼容Intel CPU及主板。佰维RD100系列严格按照JEDEC标准进行设计生产，并通过全方位质量管控，实现产品的高质量与高可靠性，兼容主流CPU、主板与操作系统，广泛......
想知道你老了后会变成什么模样吗？迪士尼展示 AI 老化工具 FRAN;IT 之家 12 月 1 日消息，迪斯尼科研工作室（Disney Research Studios）近日展示了名为 的面部老化......
腾、兆芯、龙芯完成产品兼容性合作认证。测试结果显示金泰克系列内存条产品与飞腾、兆芯、龙芯CPU互相兼容、运行稳定且性能可靠，能够全面满足用户的应用需求。 （兆芯......
h 坏了1 台，故障率为1 FIT。 通过老化试验就可以获得FIT 随时间的变化关系，这种变化关系曲线就是“浴盆曲线”。如图1 所示，早期故障率比较高，随着时间的推移进入故障率相对稳定期，即偶......
干货|锂电池容量衰退因素汇总;一、析锂和SEI膜本文综合分析了锂离子电池容量衰退机理，对影响锂离子电池老化与寿命的因素进行分类整理，详细阐述了过充、SEI膜生长与电解液、自放电、活性材料损失、集流......
降低等“老化现象”。因而暴露在户外的连接器基本都要做抗UV测试。抗UV测试，就是抗紫外线老化测试。 UV老化测试主要针对塑胶材料，常见的老化主要有光照老化，湿热老化，热风老化。而f1认证是美国UL机构......
统基于裕度的方法实现最高达 10% 的 PPA 目标提升。   套件   套件集合了卓越的分析能力，针对老化效应，电压降和阈值电压偏斜等不同类型的时序偏差，解决设计层的稳健性问题。该套件包括 5 种高......
）目标，较传统基于裕度的方法实现最高达 10% 的 PPA 目标提升。 Tempus DRA 套件 Tempus DRA 套件集合了卓越的分析能力，针对老化效应，电压......
研究人员开发动态阻抗频谱技术 可实时测量电池老化状态;据外媒报道，弗劳恩霍夫制造技术与先进材料研究所（Fraunhofer IFAM）利用动态阻抗频谱技术，确定电池内的交流电阻。通过......
），操作循环（operation cycle）和老化（aging） 测试，是指在一个操作循环内，在线诊断软件算法去判断一个组件或系统的故障状态的过程，在一个操作循环，有可能只跑一次测试，也有......
、GaN 等不同类型，不同封装芯片测试； ▪  可以提供单脉冲、双脉冲、反向恢复、Qg、短路测试、雪崩参数、RBSOA等测试功能。 SiC器件动静态综合老化测试系统 HTXB-1000D动静态综合老化......
、低压、pmos、GaN 等不同类型，不同封装芯片测试； ●   可以提供单脉冲、双脉冲、反向恢复、Qg、短路测试、雪崩参数、RBSOA等测试功能。 SiC器件动静态综合老化测试系统 HTXB......
处理单元(PPU)使我们能够提供基于的电池诊断，包括镀锂检测和预后，健康状态(SoH)和老化轨迹，以及边缘剩余使用寿命(RUL)预测。我们领先的‘全状态’(SoX)解决方案可对可用电量、功率......
状态（SoH）和老化轨迹，以及边缘剩余使用寿命（RUL）预测。我们领先的‘全状态’（SoX）解决方案可对可用电量、功率和电池健康状况进行最准确、最强大的电池级评估。这让TC4x 的用......
。 　　而内部错误是PLC内部的功能性错误或编程错误造成的，可以使系统停机。S7-1500 PLC具有很强的错误（或称故障）检测和处理能力，CPU检测到某种错误后，操作系统调用对应的组织块，用户......
、老化 刚生产完成的仪器硬件状态不稳定，测试数据容易出现较大差异，需要让仪器在特定温度下运行一段时间，使得仪器的运行状态渐渐趋于稳定。不同的设备老化方案不一致，如功率分析仪需要在老化进行时，用程控电源向被老化......
封装芯片测试；▪  可以提供单脉冲、双脉冲、反向恢复、Qg、短路测试、雪崩参数、RBSOA等测试功能。SiC器件动静态综合老化测试系统HTXB-1000D动静态综合老化测试系统针对以 SiC/GaN......
试功能。 SiC器件动静态综合老化测试系统 HTXB-1000D动静态综合老化测试系统针对以SiC/GaN为首的新型三代半导体功率器件，根据其特有的器件结构和失效机理，在加速老化条件下，有针......
试功能。 SiC器件动静态综合老化测试系统 HTXB-1000D动静态综合老化测试系统针对以 SiC/GaN 为首的新型三代半导体功率器件，根据其特有的器件结构和失效机理，在加速老化条件下，有针......
异步电动机变频调速的基本原理; B.控制电路 ①保护电路:由取样、放大、处理三部分电路组成 ②驱动电路:把CPU送出的PWM信号进行电压和功率放大，控制逆变电路中六个开关器件 ③I/O......
绝缘材料对电机的影响大吗;　　电动机所用的绝缘材料在通电运行会发生极化、电导、介质发热、击穿等物理现象，在承受电场作用的同时，还要经受机械、化学等诸多因素的影响，长期工作将会出现老化现象。因此，电气......
提供了从事件内存中删除特定事件的能力，如果其故障条件在某一段时间（操作周期）内未满足失效条件，这个过程被称为“Aging 老化”或“Unlearning 遗忘”。事件老化后，DEM将删......
压力测试的时间并预测正常使用条件下的最终寿命是非常有意义的。在更高的温度和电流的条件下测试光耦时，器件老化的过程比在正常工作条件下要快得多。 CTR 的老化速度取决于工作时的正向电流 IF 和工......
压力测试的时间并预测正常使用条件下的最终寿命是非常有意义的。在更高的温度和电流的条件下测试光耦时，器件老化的过程比在正常工作条件下要快得多。 CTR 的老化速度取决于工作时的正向电流 IF 和工作时的环境温度TA。需要注意的是，可以通过降低 LED......
压力测试的时间并预测正常使用条件下的最终寿命是非常有意义的。在更高的温度和电流的条件下测试光耦时，器件老化的过程比在正常工作条件下要快得多。 CTR 的老化速度取决于工作时的正向电流 IF 和工......
对于组织的修复与新生也都相当重要，因此干细胞功能退化也会造成个体的老化。而日本的山中伸弥（Yamanaka）教授所发现的干细胞基因，则开启了使老化的细胞恢复活力的研究新方向（注 1）。但是......
电源设计，电源更稳定，功率输出更高效；采用无铅工艺制作，100％通过高温老化测试，保障产品环保稳定；无机械结构设计，具备抗震、抗摔的功能。 经过测试，该产品适配市面上主流的X86消费......
消息人士称，三星最近正在为SSD测试仪供应商举行了公开招标会议，目前已找到合适的候选人。 据了解，此次招标主要是确定SSD老化测试仪和SSD后测试仪的供应商。 报道指出，老化......
/Φ6mm圆柱电极进行测试。 试验条件 耐高频冲击试验仪波形参数见表1。在155 ℃的老化烘箱内，对电磁线试样连续地进行试验，老化烘箱应满足GB/T 11026.4-2012的要求。 表1  电磁......
选配热流仪可以进行高温低温。 HTXB-1000B动静态综合老化测试系统 DHTXB-1000A动静态综合老化测试系统针对第三代半导体功率器件，参考AQG-324标准，根据特有的器件特性和失效机理，在加速老化条件下，有针......
机护板等处的螺栓有无松动。松动拧紧螺栓就会消失。 衬套部件老化所致的异响 多数......
随机失效（器件老化）和系统失效（人为设计）； 2、如果出现随机失效后，系统能达到安全状态，同时尽量消除系统失效。 可以这样简便但不严谨的来区分随机失效和系统失效，随机失效就是找不到根本原因的、不可复现的，系统......
采用一些参数进行评价，如色坐标、显色指数等。若光的混合比例设计不当，或随着使用芯片等器件的老化，LED的白光可能出现变化，达不到既定的设计要求，进而影响正常使用。但是事实上，由于对色温、显色指数的控制效果不佳，较容......
漏光是由于结构件的配合不理想，光从不该漏光的地方漏出所致。 2.1 压迫式漏光分析及解决 以24 英寸液晶模组为例。24 英寸液晶模组整机组装及老化后出现严重的压迫式漏光现象，如图1 所示。针对......
对其进行读/写操作和调节，但是，无论哪种方案都会提高系统成本。 频率的长期稳定性主要受石英晶体老化的影响，补偿这种影响的唯一方法是测量频率并根据测量结果进行频率校准或调理。因为晶体老化的程度随着时间而减弱，影响......
入式视觉提供高清显示 瑞萨RZ/G2L系列处理器，集成了ARM Cortex-A55高性能CPU和ARM Cortex-M33实时CPU，含Mali-G31 3D GPU，VPU支持H.264 1920*1080......
应用端解决方案落地。 动静态综合老化测试系统HTXB-1000D HTXB-1000D 动静态综合老化测试系统针对以SiC/GaN 为首的新型三代半导体功率器件，根据其特有的器件结构和失效机理，在加速老化......
辅助发动机在工作时降温和减缓冲击等作用。不过随着车龄增长、发动机内部部件的老化，就会让发动机内部的机油渗漏到燃烧室，与汽油一同被燃烧。造成烧机油的现象主要是由于以下这几个零件老化，所导......
设计。   No.4 电子产品老化测试 在电路板的老化测试中，需要对产品进行温度监控，使用 FOTRIC 热像仪可以实时监测老化过程中产品的温度情况，以确定产品的性能。 ......
使用的控制计算机、数据管理计算机完全使用国产CPU芯片。   据航天科技集团五院神舟十二号载人飞船项目产品保证经理郑伟介绍，依托我国中继卫星系统，测控由地基测控为主全面转为天基测控为主，地面......
RGB背光色域 2.5 RGB各晶片老化一致性 RGB三原色背光LED使用了三种不同的晶片，并在不同的电流下工作，如果三种晶片的衰减速度相差太多或某一种晶片寿命不合格时，会影......

相关企业

佛山市南海区精维电子电器有限公司
;佛山市南海区精维电子电器有限公司;;佛山市南海区精维电子电器有限公司，公司主要自主开发LED显示卡控制板、LED洗墙灯控制板、电子控制板、CPU控制板、LED工矿灯、LED洗墙灯；以及LED灯生
深圳市华天宇电子科技有限公司
;深圳市华天宇电子科技有限公司;;我公司专业制作各类测试座（Test & Burn-in Sockets、老化测试座），手机、电脑主板南北桥等的BGA IC测试架（BGA IC测试治具）、BGA
盈控自动化设备有限公司
,Q06HCPU,A1SJ61BT11,QC1008, Q172J2BCBL1M,A6TBX36-E,Q2MEM-2MBS,Q2ACPU A0J2-CPU,A1S-CPU,A1SH-CPU,A1SJH-CPU
武汉自动化有限公司
;武汉自动化有限公司;;回收的种类齐全，型号齐全，价格从高，服务至上。 本公司常年信誉回收各类西门子工控产品，如西门子6av6系列人机界面触摸屏，s7-200系列plc模块和cpu模块，s7
顺达通讯电子商行
;顺达通讯电子商行;;经营：各种手机IC.主板。字库，功放，中频，电源，CPU. 回收：各种手机IC.主板。字库，功放，中频，电源，CPU
蓝冰互联
;蓝冰互联;;虚拟主机，不限CPU不限IIS极速空间，蓝冰互联合租空间，服务器租用，托管，1G/238年，完全不限CPU 不限IIS www.0756idc.com
macraigor
for debugging your embedded CPU. We cover the widest range of target CPUs with an array of tools to meet your
东莞市力生电子设备有限公司
;东莞市力生电子设备有限公司;;老化房，烧机房，老化车，老化设备，老化线，东莞老化房，东莞老化车，东莞老化设备。老化房，烧机房，老化车，老化设备，老化线，东莞老化房，东莞老化车，东莞老化设备。 东莞
lloki
;lloki;;cpu
太子CPU
;太子CPU;;