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对异常区域进行了SEM&EDS分析,EDS......
;EDS(扫描电子显微镜&能谱仪)分析 2.1 对上锡不良的引脚表面进行SEM&EDS[1]分析,发现: 1)上锡不良的区域有颗粒状的形状,EDS 主要检查到Sn、Ag、Cu 元素,其中Ag......
采取相应的改进措施。 六、扫描电子显微镜(SEM)与能谱分析(EDS) 1. SEM 分析 - 原理:利用......
界面操作采用了在JSM-IT800系列高分辨率扫描电子显微镜中广受好评的“SEM中心”,全面集成EDS分析。5.双轴倾斜盒和专用TEM支架可实现更精确的对准,同时使样品更容易在TEM和FIB之间的切换。销售目标50台......
JEOL推出高精度和高分辨率的FIB-SEM系统“JIB-PS500i”; 【导读】随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化,形态观察、元素......
国 WITec、捷克 Tescan、蔡司等推出了 RISE 系统,可以实现拉曼成像与 SEM 等技术的联合应用,通过电池表面形貌(SEM)、元素分布(EDS)与电极材料分子组成信息(Raman 图谱)结合......
,可以实现拉曼成像与 SEM 等技术的联合应用,通过电池表面形貌(SEM)、元素分布(EDS)与电极材料分子组成信息(Raman 图谱)结合,实现材料的原位多角度分析,了解......
微区成分的原位分析非常重要。除了与扫描电子显微镜(SEM) 配合使用的能谱分析(EDS) 以外, 环旭电子引入了高灵敏度的分析设备—X射线光电子能谱仪(XPS)和傅立叶红外光谱仪(FTIR)。其中,XPS可以......
污染度测试 ROSE、傅里叶变换红外光谱法 FTIR、涂覆可靠性测试 CoRe test、颗粒物测定/技术清洁度 Technical Cleanliness、扫描电子显微镜/X射线能谱分析仪(SEM/EDS)、X射线......
污染度测试 ROSE、傅里叶变换红外光谱法 FTIR、涂覆可靠性测试 CoRe test、颗粒物测定/技术清洁度 Technical Cleanliness、扫描电子显微镜/X射线能谱分析仪(SEM/EDS)、X射线......
2-5所示。 图2-5添加子站节点 步骤7,分配节点名称导入对应EDS文件,点击设备概览中所添加的节点,可对其进行命名(该演示内使用默认名称)。此时在属性可进行EDS文件操作,点击Import......
DigiKey 在 2023 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多项大奖; 全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商 DigiKey 日前宣布,在 5 月 16 日至......
*/     struct semaphore    sem;        /* locks this structure */     struct timer_list    *timer......
DigiKey 在 2023 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多项大奖;全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商 DigiKey 日前宣布,在 5 月 16 日至 19......
DigiKey 在 2023 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多项大奖;全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商 DigiKey 日前宣布,在 5 月 16 日至 19......
微区成分的原位分析非常重要。除了与扫描电子显微镜(SEM) 配合使用的能谱分析(EDS) 以外, 环旭电子引入了高灵敏度的分析设备—X射线光电子能谱仪(XPS)和傅立叶红外光谱仪(FTIR)。其中,XPS可以......
testing  */   MODULE_LICENSE('GPL');   static int MAJOR_NUM=0; static struct semaphore sem; static int......
得到信号量的进程才能执行临界区代码。 当获取不到信号量时,进程进入休眠等待状态。     定义信号量 struct semaphore sem; 初始化信号量 void sema_init (struct semaphore *sem......
DigiKey 在 2024 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多个最高奖项; 全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和产品分销商 DigiKey 日前宣布,在 5 月 21 日至 23......
int MAJOR_NUM=0; static struct semaphore sem; static int global_var = 0; static int global_var_count......
semaphore sem; 初始化信号量 void sema_init (struct semaphore *sem, int val); void init_MUTEX(struct......
电子显微镜(SEM......
东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备CD-SEM交付燕东微电子;4月1日,东方晶源微电子科技(北京)有限公司(以下简称“东方晶源”)宣布,东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备(CD-SEM)已于......
罗姆与Quanmatic公司利用量子技术优化制造工序并完成验证;~双方在大型半导体制造工厂取得先进成果,目标是2024年4月正式应用于EDS工序中*1~ 全球知名半导体制造商罗姆(总部......
研讨会上将展示Altera SoC的Altera版ARM DS-5工具包。这一工具包将含在Altera SoC嵌入式设计订购版套装(Altera SoC EDS)中,价格是995美元。请访问http......
极大地提高工业通信的效率和可靠性。 运行ab编程软件 加载EDS文件 选择要安装的eds文件: 新建工程:添加对应的CPU和网关 设置网关的输入输出数据长度和名字,IP地址 点击OK操作......
罗姆与Quanmatic公司利用量子技术优化制造工序并完成验证; 双方在大型半导体制造工厂取得先进成果,目标是2024年4月正式应用于EDS工序中*1。 全球知名半导体制造商罗姆(总部......
罗姆与Quanmatic公司利用量子技术优化制造工序并完成验证;~双方在大型半导体制造工厂取得先进成果,目标是2024年4月正式应用于EDS工序中*1~ 全球知名半导体制造商罗姆(总部......
DigiKey 在 2024 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多个最高奖项;全球供应品类丰富、发货快速的商业现货技术元件和自动化产品分销商DigiKey日前宣布,在 5 月 21 日至 23......
证明东方晶源在电子束检测领域具有创新性、战略性、引领性、突破性,技术达到一定成熟度。 电子束缺陷检测设备(EBI)和关键尺寸量测设备(CD-SEM)是制造中用于良率监控的关键设备,对于......
证明东方晶源在电子束检测领域具有创新性、战略性、引领性、突破性,技术达到一定成熟度。 电子束缺陷检测设备(EBI)和关键尺寸量测设备(CD-SEM)是制造中用于良率监控的关键设备,对于......
. */ if (dev->parent) /* Needed for USB */ down(&dev->parent->sem); down(&dev->sem......
产品技术细节,与展台工作人员深入探讨合作机会,共同寻求未来发展的新机遇。 DR-SEM正式亮相,电子束检测量测领域领先优势再扩大 本次展会,东方晶源电子束缺陷复检设备DR-SEM(型号......
东方晶源首台关键尺寸量测设备进驻中芯国际;东方晶源官方消息显示,6月30日,东方晶源在北京总部隆重举行国内首台关键尺寸量测设备(CD-SEM)出机仪式,正式宣布斩获订单并出机中芯国际。 新闻......
开关符合 IEC 61000-4-2 标准的 EDS 要求,并经过满载条件下的工作耐久性测试,耐用性得到验证(电气寿命:5 万次)。 2023 年 09月 06日 — 伍尔......
DigiKey 在 2024 EDS 领导力峰会上斩获供应商授予的多个最高奖项; /* Style Definitions */ table.MsoNormalTable......
公司(TESCAN CHINA)与厦门乾照光电股份有限公司联合宣布了一项重要的合作协议,乾照光电将向TESCAN采购一台型号为LYRA3 XMH的FIB-SEM(双束聚焦扫描电子显微镜系统)! 当日,双方......
了超低的亚阈值摆幅,降低了漏电,改善了器件的均一性和良率。 图1:Ga2O3功率二极管界面TEM图、EDS元素分析及其电学测试结果 相关成果以“Improvement of β-Ga2O3 MIS-SBD......
发射器和 AlInGaP 红色发射器连接。 官方强调“这些半导体发射器垂直堆叠并同轴排列”,并提供了截面 SEM 图像用于演示,其中(a)为全彩晶圆;(b)为 5um 彩色像素间距阵列的 45 度倾斜 SEM......
器每一圈机械式旋转则等于 196608 个增量 (3*65536 增量)。 分解器以增量的形式提供位置数据 (16 Bit)。 这些位置数据在 RDC 内乘上一个内部演算系数,并换算成电机角度度数。 在 EDS 里......
浏览器进行了安全测试。 根据 NSS Labs 表示,这次测试主要是测试浏览器两大项目的安全,对应社交网络散布的恶意软件(SEM)以及钓鱼网站的阻隔。而测试的浏览器版本分别是: Google......
(&dev->parent->sem);     down(&dev->sem);     if (!dev->driver......
自动电子束晶圆缺陷复查设备(Review SEM)顺利出机。 上海精测半导体母公司精测电子7月13日披露的投资者调研纪要中指出,上述两款出机产品的客户为晶圆代工厂商中芯国际。前不久,东方晶源首台关键尺寸量测设备(CD-SEM......
同步。开发工具LAN8841以太网开发系统(EDS)子卡旨在为兼容的Microchip主机板提供模块化补充。该EDS子卡与PCIe®网络适配器配对后,可通过任何支持PCIe接口的主机评估LAN8841。用于......
同步。开发工具LAN8841以太网开发系统(EDS)子卡旨在为兼容的Microchip主机板提供模块化补充。该EDS子卡与PCIe®网络适配器配对后,可通过任何支持PCIe接口的主机评估LAN8841。用于......
制造一体化良率提升解决方案HPOTM由俞宗强博士在2014年创建东方晶源伊始首次提出。经过近十年的不懈努力,该理念已在电子束图像系统(SEM)、计算光刻(OPC)和布局布线技术(P&R)等核......
))。这不仅低于UnitedSiC的上一代产品,也低于我们迄今为止观察到的任何650 V SiC MOSFET。(还要注意,这实际上是一个750V的设备) 图2的扫描电子显微镜(SEM)横截......
备) 图2的扫描电子显微镜(SEM)横截面图像中可以看到UJ4C075018K4S的JFET阵列结构。图3中的SCM图像显示了相对掺杂以及沟槽侧壁底部和沿着沟槽侧壁的p型栅极接触。我们......
日立高新技术公司部宣布推出其GT2000高精度电子束测量系统;技术公司宣布推出其GT2000高精度电子束测量系统。GT2000利用技术在CD-SEM*1方面的技术和专业知识,在那......
;(tx_fifo->sem), RT_WAITING_FOREVER); level = rt_hw_interrupt_disable(); tx_tosnd = rt_list_entry......

相关企业

;柯岷国际贸易(上海)有限公司;;专业代理及销售扫描式电子显微镜SEM,能量元素分析仪EDS设备 ?EDX EX250/EX350 ?日立 S-4800冷场发射电子显微镜 ?日立S-5500超高
;eds;;
、滤袋等相关设备; 国内首家自主研发的微波单层电容器;扫描电子显微镜/电镜(SEM EDS); X射线能谱仪(EDS),X射线波谱仪(WDS),X射线能谱-波谱一体化系统 (EDS+WDS); 英国
, please refer to the Quartus II Software Release Notes, the Nios II EDS Release Notes, and MegaCore IP
污染测试仪OMEGA600,德国IKA磁力搅拌测试仪,日本电子SEM/牛津EDS等公司在中国的代理公司,现已与世界多家分析仪器制造厂商建立了长期稳定的贸易往来关系。凭着多年的行业优势、信息积累,市场开发的经验,在 PCB
-Strata980镀层测厚和元素分析系统 5.X射线能谱仪(EDS),X射线波谱仪(WDS),X射线能谱-波谱一体化系统(EDS+WDS) 扫描电子显微镜/电镜(SEM EDS)。 美国VEECO产品系列: 1
Equipment, used,t(CD-SEM. FESEM, SEM, FIB),Electronic Test Equipment ,quartz, ceramic,silicon carbide
sem;;;
subsem;子-SEM;;
;深圳凌飞电子有限公司;;我司是一家专业做电子元器件的港资公司,成立了有八年历史,现代理的的品牌有RICHTEK,MPS,AIMTRON,NIKO-SEM,AMIC,ISSI,YMC,YMC.