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排除大气层浓度变化带来的影响,在测量薄膜或玻璃时,还要考虑到这些材料在一定波长内不易穿透的。为了避免背景光线引起的测量误差,运用相宜的,只接收表面温度的传感器,金属有此物理特性,发射率随着波长的减小而增大,经验而谈,测量......
光。光谱中绿光和黄光波长的光一般会被反射,对植物生长的贡献不大。通过控制不同生长阶段中的部分光谱和光照射强度,可以使生长最大化,最终提高产量。 图1显示了一个用于测量可见光谱......
我们可以在上面的方程中加入一个常数Lr,使 那么L就可以直接由Lr读出,Lr在矢量网络分析仪中可以由参考面设定来改变,我们可以通过变化Lr设定直到得到在所有频率点上Phase都为0,来确定L。测量误差分析......
–5.5μm波长范围内激光光谱的台式分析仪,具有精度高、动态范围广和高分辨率等特点。对于此类仪器,支持5μm波段的测量是业界首创* 2。 光谱分析仪是一种分析如半导体激光器和光纤激光器等光子器件的波长......
的消除方法有双胶合系统与双分离系统。 而光谱共焦测量方法恰恰利用这种物理现象的特点。通过使用特殊透镜,延长不同颜色光的焦点光晕范围,形成特殊放大色差,使其根据不同的被测物体到透镜的距离,会对应一个精确波长的......
的仪器,这也是它和色度计最大的区别,色度计是无法测量光谱的。我们知道光是一种电磁波,想要详细了解光的特性,就需要知道其光谱,光是由不同强度不同波长的电磁波组成的,平时用的最多的光谱......
安全● 传感头和控制器分离,降低温度变化导致的测量误差应用场景可完成对镜面、透明、高反光等几乎所有材质的高精度3D检测,适用于消费电子、半导体、新能源、精密五金等行业的复杂材质检测场景。等离......
安全● 传感头和控制器分离,降低温度变化导致的测量误差应用场景可完成对镜面、透明、高反光等几乎所有材质的高精度3D检测,适用于消费电子、半导体、新能源、精密五金等行业的复杂材质检测场景。等离......
染气体的释放以及监测城市的空气质量等。为满足其多元化的测试需求,横河AQ6377另辟蹊径为其量身定制测量解决方案。 精密气体分析的挑战 气体吸收光谱法是一种基于中红外波段气体光学特性的测......
线长可拼接,实现高效大面积检测● 白光光源,人眼安全● 传感头和控制器分离,降低温度变化导致的测量误差应用场景可完成对镜面、透明、高反光等几乎所有材质的高精度3D检测,适用于消费电子、半导体、新能源、精密......
仪表测量误差与误差分类;在测量中由不完善,测量人员操作不当,测量中客观条件的变化等种种原因,都会使得测量值和被测量的真实值不符,即存在测量误差。由于真值难以得到,故在......
控制这个仪器的分辨率。这个衍射光栅专门设计用于以已知的角度反射不同波长的光。这个波长的空间分离使得其它系统可以根据波长来测量光强度。   传统光谱测量架构的主要不同之处在于散射光的测量方式。两种......
效应引起的电位差计读数增量。 由式(2)、(5)、(7)经简化可得 (8) 取不同的 k值即k=1,2,3,。..,n-1,则可按式(8)得到一组η值,取其平均值做为测量结果时可进一步提高η的测量准确度。 四、误差分析测量方法的主要误差源分析......
STM32控制放大量程增益自动切换技术,消除光电探测器在同一波长不同光强下对光的非线性响应导致的测量误差,可以大大提高光功率计测试的精度和可靠性。 2、系统工作原理 系统的原理框图如图1所示......
温度测量时如何消除线阻抗引入的误差?;工业现场环境复杂,传感器距离控制器往往很远,对于测温传感器PT100,传感器阻值变化0.385Ω/℃,因此过长导线的线阻抗不可忽视,消除导线引来的测量误差,是提......
高楼大厦投下的阴影时的场景。 由于TOPLED® D5140 SFH 2202对绿光波长具有更高的灵敏度,因此系统能够以更低的LED光强度工作,既能节省功耗并帮助延长电池续航时间,同时又可保持高度精确的测量......
2202对绿光波长具有更高的灵敏度,因此系统能够以更低的LED光强度工作,既能节省功耗并帮助延长电池续航时间,同时又可保持高度精确的测量,从而提供更加出众的心率测量性能。TOPLED® D5140......
节省功耗并帮助延长电池续航时间,同时又可保持高度精确的测量,从而提供更加出众的心率测量性能。TOPLED® D5140 SFH 2202采用专门设计的封装,带有黑色侧壁,可最大限度减少内部串扰,从而进一步减少光学测量误差,并提高心率测量......
节省功耗并帮助延长电池续航时间,同时又可保持高度精确的测量,从而提供更加出众的心率测量性能。TOPLED® D5140 SFH 2202采用专门设计的封装,带有黑色侧壁,可最大限度减少内部串扰,从而进一步减少光学测量误差,并提高心率测量......
层采用真空膜镀技术,镀膜厚度根据红、绿、蓝三色的光谱波长相对应,白色光通过金属镀膜层时,所对应的光谱波长的色彩将透过色轮,其它色彩则被阻挡和吸收,从而完成对白色光的分离和过滤。 在单片DMD......
在式中乘以系数C,C为参考反射板在每个波长的绝对反射率值)。 单光路测试: 首先不放样品,测出100%透射的光谱信号; 放入样品测试光谱信号 两个信号进行比较得到的透射率 特点: 1、需要2次测量......
产生的原因,掌握正确的测量技术和方法,就可以减小测量误差。 人为读数误差是影响测量精度的原因之一。它是不可避免的,但可以尽量减小。因此,使用中要特别注意以下几点:1测量前要把万用表水平放置,进行......
为对比,分别采用比值法、能量重心法和文中的方法进行距离测量。表1中列出了四种方法的在不同距离上的测量误差值。本文的方法在不同的距离上测量偏差是最小的,最接近理论值。比值法由于噪声影响,会导......
基于DLP技术的近红外光谱仪设计;一、简介 近红外光谱分析是一种强大的技术,通过样品对不同波长的光的吸收或发射的变化,实现对物理材料的识别和分类。适用工作在700至2500 nm之间的波长下的手持式光谱分析......
同样的信息。 矢量网络分析仪校准,为什么这么重要? 即使再好的测试设备也会存在瑕疵,从而导致测量结果不太理想。这些导致测量误差的缺陷中,有一些是随着时间和温度的变化而可重复和可预测的,并且可以消除,而另......
等观测中有广泛的应用,高光谱成像仪可以应用在地物精确分类、地物识别、地物特征信息的提取。 建立目标的高光谱遥感信息处理和定量化分析模型后,可提高高光谱数据处理的自动化和智能化水平。由于成像光谱仪高光谱......
身带来潜在危害;测量误差大。 3、使用两个探头测量,再利用示波器数学运算功能计算 使用两个探头进行两项单端测量,这是一种常用方法,也是进行差分测量不希望的方法。测量到地的信号(单端)及使......
成像技术都在各种研究、工业和遥感应用中广泛用于捕获和分析电磁波谱。这两种技术彼此互补,具体如何选择取决于应用要求和现有数据的级别。 如果应用需要涵盖的光谱波段较多,所需的光谱......
对于很小的回波损耗,15 dB的指向性也可以确保正向测量的误差不超过大约1 dB。 耦合器方向性的测量 最后,由于它与本文中提供的误差分析密切相关,我想提一个测量耦合器方向性的实用方法。我们通常不能直接测量这个方向性,因为......
精度是有效的,但又存在着如下问题:一是整个频段测量精度不一致;二是中界频率附近频繁切换测量方法,误差大,实时性差。 2 等精度测量方法的原理及误差分析 等精度测频法是在传统测频方法基础上发展起来的测......
示波器在地浮动时会出现一个大的寄生电容,浮动测量将受到振荡的破坏,测量的波形失真严重,后续会有实例演示。总而言之,示波器浮地测量容易损坏被测器件;损坏示波器;给人身带来潜在危害;测量误差大。 3)差分测量 浮地测量的最佳解决办法就是使用高共模抑制比的差分......
=128),增益误差8ppm。内置温度传感器和高精度振荡器,同时具备两路差分输入通道。 | 精确测量永远是工业测量的重中之重 广告 在工业生产自动化控制中,准确的测量数据是基础,更高的测量......
设计一个精度较高的高度表测试系统。利用数字采集技术和计算机技术进行信号处理具有较高的测量精度,同时LabWindows/CVI软件平台结合了C语言和用于数据采集、分析和显示的测控专业工具,简化了用户接口的设计,使生......
清晰光谱空间:全自动可调波长系统的高光谱成像优势;高光谱成像技术是一种捕获和分析宽波长信息的技术,能够对材料和特征进行详细的光谱分析和识别。高光谱成像技术的实现通过高光谱相机,其工作原理是使用多个光学传感器或光学滤波器分离不同波长的......
来说,由电流表的电压负担所产生的测量误差等于电压负担除以被测设备输出电阻。典型的电流表所产生的电压负担量级在数百毫伏左右。 4、反馈型电流表 相比于分流型,反馈型电流表更接近于理想电流表,在测量......
了光折射率因为温度变化造成的影响而 αΛ 体现了同样的温度变化造成的光栅周期的改变。 正因为光纤布拉格光栅会同时受到应变和温度变化的影响,所以在计算反射波长变化的时候既要同时考虑这两种因素,又要分别对其进行分析。当进行温度测量......
偶校准器输出时的连接图。在室温条件下测量并记录如下实测结果,表明在如下表格范围内得到的测量误差小于±0.2℃。     参考资料:ITS-90 Thermocouple Database, Web......
为什么说VNA的校准很重要?;即使再好的测试设备也会存在瑕疵,从而导致测量结果不太理想。这些导致测量误差的缺陷中,有一些是随着时间和温度的变化而可重复和可预测的,并且可以消除,而另......
—r3作为传感器的测量线内阻,其线越长,内阻越大,因此,在很多运用场合中完全消除由传感器测量线内阻所带来的测量误差变得十分重要。 图3. 三线制PT100 上图中AI0和AI1为SoC的差分......
指标如下: a、电导Re[Y]的测量范围为0.1mS~10mS,分为若干量程,测量误差的绝对值小于 理论计算值的10%; b、电纳Im[Y]的测量范围为0.1ms~10ms,分为若干量程,测量误差......
多个调制频率下进行四次相关函数采样。对于较长距离的测量,或场景中环境光较强时,对连续输出功率要求较高,会影响加热和稳定性。而功率高对人眼安全相关法规也是不利的。因此可透由改变发射脉冲模式或选择更长奈米波长的光(>950奈米波长......
​虚拟网络分析校准技术介绍;了解矢量网络分析仪()校准技术如何纠正测量误差的基础知识。本文引用地址:矢量网络分析仪()是射频和微波应用中最精确的测量仪器。例如,现代可能比任何其他功率传感器具有更好的精度来测量......
测磁极;单极霍尔开关相对简单,但如果磁场与霍尔结构不匹配,很容易产生测量误差。另一种解决方案是使用双极锁存霍尔开关,双级锁存霍尔开关方案需要检测两个磁极(ns极)并输出两种脉冲类型。该方案可以避免磁钢过强或过快引起的测量误差......
于各种有色或无色物质,具有灵敏度高、可靠性强等优点。 光电二极管阵列检测器(DAD检测器):实际上是紫外检测器的一种,可以进行全波长检测,实现3D光谱分析。虽然使用量不大,但由于其关键技术尚未被广泛掌握,制造......
放大器 + 后级运放 + 高速比较器 + 飞行时间测量芯片 雪崩二极管PTOF-APD1 PTOF-APD1是一颗接收光波长为905nm......
光学传感芯片最新进展,有利机器人、自动驾驶等领域发展;光学传感芯片是一种集成光谱传感器的芯片,其工作原理主要基于光学传感技术。它能够测量光线的不同波长,并通过电子技术将这些波长的......
。如果照明在某些波长下没有信号,则这些波长上的测量数据无效。与高光谱成像传感器兼容的照明类型有:对于可见光范围,最典型的是卤素照明(点状或线状),也使用 LED。超连......
数据手册,  当电流为20mA的时候,APT1608SURCK峰值波长为645nm,主波长为630nm 峰值波长 λP(Peak Wavelength ) : 定义为光谱辐射功率最大处所对应的波长。简单的说就是它不代表人肉眼能看到的波长而是光学检测器能看到的波长......
射频信号时,请注意电缆特性阻抗与仪器输入阻抗的匹配,否则信号失配会引起衰减并引起测量误差。在有线电视系统中,电缆的特征阻抗通常为75Ω,分析仪的输入阻抗通常可以在50Ω至75Ω之间选择。因此,在测量过程中应正确选择分析......
等综合起来决定了AD595在额定环境温度范围内的输出稳定性。图2显示了AD595的测量误差分布范围。图2中的坐标单位为℃。 1.2 热环境效应 AD595本身固有的低能量耗散以及低热阻抗的封装使得它由于自身发热引起的误差......

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司专注于研发、生产和销售光电、热工类仪器仪表。产品主要用于太阳膜、建筑隔热玻璃等节能材料的光学性能、热力参数的测量、记录和分析,如紫外线的阻隔率、可见光透过率、红外阻隔率、遮阳系数(SC),热学性能,以及
时自动显示加油机枪口处温度和标准金属量器内部中心处温度,2、能自动显示游标卡尺示值,3、能计算单次测量误差并显示,4、能计算平均测量误差并显示,5、能计算重复性误差并显示。主要产品:(1)标准金属量器: 一等(1-1000L
制导,分析仪器,医疗仪器,光谱测量,食品检测仪器...... 详细资料请访问公司网站 海力企业有限公司 SEAPOWER ENTERPRISE LIMITED 陈先生 Mobile: 13760238077
率、中大功率,通讯和传感应用的长波长激光器,工业应用的短波长激光器等。系统包括半导体激光光源,特殊应用激光系统,客户定制的专门系统等。仪器设备包括激光器光电参数分析仪、光谱和光束分析仪,环境
率、中大功率,通讯和传感应用的长波长激光器,工业应用的短波长激光器等。系统包括半导体激光光源,特殊应用激光系统,客户定制的专门系统等。仪器设备包括激光器光电参数分析仪、光谱和光束分析仪,环境
率、中大功率,通讯和传感应用的长波长激光器,工业应用的短波长激光器等。系统包括半导体激光光源,特殊应用激光系统,客户定制的专门系统等。仪器设备包括激光器光电参数分析仪、光谱和光束分析仪,环境
;上海广照光电科技有限公司;;GZtek主要致力于光谱分析技术及精密光、机、电一体化检测仪器的研发 、创新和推广,产品一律采用国际著名厂商元件。目前在产产品包括:多款光纤光谱仪、致冷型光谱仪,以及各种用户定制的光谱分析
立法人资格。 公司自主研制的CCD光谱分析系列产品在LED等发光器件的高速检测和分检方面已经成熟。其中SSP3112型LED光谱波长测试系统和SSP3316型LED光强角分布测试系统通过CMC认证
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