光耦仿真器登场,引脚、电气全兼容!

发布时间:2023-09-22  

如今大热的工厂自动化、电机驱动、电网基础设施和电动汽车应用中,电压动辄几百伏,甚至数千伏。如何更好的保护电子设备和操作人员的安全,提高电路的抗干扰能力,同时仍支持信号和/或电源传输,电隔离必不可少。


光耦——作为专有的隔离技术,在长达50年的时间里,一直是隔离设计人员的首选。最早的形式包括初级侧的微型白炽灯泡、作为绝缘或介电层的光学透明塑料、以及次级侧上由所照射光量度进行调制的光敏电阻器。后来使用了LED来跨隔离层(通常是空气间隙或介电强度比空气稍好环氧树脂)传输数字或模拟信息。


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典型光耦结构


但随着工业和汽车领域对高可靠性、更长使用寿命和更高信号完整性的需求不断增长,光耦的局限性也渐渐暴露出来。由于绝缘材料容易因高电压应力击穿势垒,老化问题成了光耦的突出问题。同时由于生产工艺的限制,光耦的一致性也无法得到有效保证。此外,由于光耦通过切换PN结二极管而工作,开关速率相对较慢,因此,光耦只能运行在较低的数据速率下,并且有较大的传播延迟和偏移,TI隔离接口市场与应用经理 Michael Schultis列举了当前光耦遇到的问题。


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德州仪器隔离接口市场与应用经理 Michael Schultis


这时,数字隔离技术(例如电容隔离和磁隔离)逐渐走上前台。据Markets and Markets 统计,2022-2027年全球数字隔离芯片市场年复合增长率为8.45%,预计到2027年将达到27亿美元,其中工业和汽车是其最大的两个市场。
 
与光耦引脚、电气全兼容
 
Michael Schultis表示,数字隔离器的优缺点取决于隔离材料的类型,而隔离材料决定了隔离器的等级和寿命。TI 之所以选择二氧化硅 (SiO2)作为隔离带的材料,是因为它对湿度和温度都不是特别敏感,能够提供高速、长寿命、鲁棒性、良好的时序规范和更低的功耗等性能,尤其是在高额定电压、电气特性、开关特性和可靠性方面具有出色表现。

 
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TI 光耦仿真器结构
 


为了帮助工程师更方便地使用数字隔离器,TI于近日推出了全新光耦仿真器产品ISO8110和ISOM8710系列,顾名思义,这些产品不仅与业内常见的光耦引脚对引脚兼容,同时在电气功能方面也是兼容的,设计者可无缝集成到现有设计中。隔离应用中重点关注的共模瞬态抗扰度(CMTI)、功耗、隔离性能与可靠性、传输延时、使用寿命等指标上,光耦仿真器比光耦隔离也有较大优势。
功耗:利用更低的 IF 阈值和电源电流,TI 光耦仿真器可降低高达80%的功耗。
共模瞬态抗扰度 (CMTI):光耦采用单端通道设计,无共模噪声抑制电路,因此其接收器易受外部共模噪声的影响。而TI ISOM8710 的典型 CMTI 为 150kV/μs,可提供比光耦高多达 10 倍的共模瞬态抗扰度。
隔离性能:光耦仿真器能提供高达3,750VRMS 的隔离保护。
高数据吞吐量:与高速光耦相比,数字隔离器可以支持更高的数据速率。TI最新光耦仿真器数字信号数据速率高达 25 Mbps (ISOM8710),模拟信号的带宽高达 680 kHz (ISO8110)。
长达40年使用寿命:由于所用绝缘材料的介电强度差异,TI  SiO隔离栅具有 500VRMS/μm  的高介电强度,使新器件产品系列可为终端产品设计提供长达 40 多年的保护。
稳定性:TI光耦仿真器支持 -55℃ - +125℃ 的温度范围,并在整个温度和生命周期内保持稳定且严格的电流传输比 (CTR)。
封装:光耦所使用的绝缘介质(空气和环氧树脂)的介电强度非常低,因此在单通道封装中会占据相当大的空间。而TI光耦仿真器使用 SiO2 作为电介质,该种介质具有明显更高的介电强度,但占用的空间非常小,可以将多个通道轻松集成到一个小型封装中。所以TI光耦仿真器的封装做到了 4.8mm x 3.5mm。
认证:传统光耦的认证为 IEC 60747-5-5,该认证无需寿命测试,最新光耦仿真器通过 IEC 60747-17 认证并进行寿命测试。 IEC 60747-17是数字隔离器制造商和光耦制造商合作定义了一个新的兼容性标准,该标准不是一个简单演进的光耦标准,而是一个真正适应光耦合器和CMOS数字隔离器之间制造和设计差异的标准。
 
据悉,TI汽车版本的光耦仿真器产品预计将于 2024 年面市。 目前,针对光耦仿真器,TI已经推出了样品和评估板(数字输入输出ISOM8110DFGEVM系列和模拟输入输出ISOM8710DFFEVM 系列),可以在TI官网上申请。


 
 WechatIMG136.jpgISOM8710DFFEVM
 
 

Michael Schultis介绍,光耦通过集成一个 LED 来隔离信号,在过去一直是工程师的常用选择,但光耦需要预先进行超裕度设计,用于补偿 LED 不可避免的老化效应。TI 光耦仿真器使用 SiO2 隔离栅,无需进行超裕度设计,可完全消除 LED 的老化效应。
 
对于光耦仿真器是否能全面替代光耦问题,Michael Schultis表示目前市面上的光耦可能有数万种。TI发布的两款光耦仿真器与市面上非常多的主流光耦是兼容的,同时还提供了一些变种,比如说针对不同的电流传输比例、不同的封装、以及不同的隔离等级。同时,TI也在不断地提升隔离势垒的技术,比如说克服使用寿命的问题,让 CMTI 等系统指标满足越来越严苛的系统设计要求。最终的目标是针对主流的应用实现直接替换。
 
光耦与数字隔离器,并驾齐驱


不可否认,尽管光耦存在固有的性能缺陷,光耦仍然占有隔离市场的较大份额。因为光耦几十年来一直是事实上的解决方案,设计人员对使用光耦感觉很放心并且觉得它们更安全。所以可以预见的是,在未来相当一段时间内,光耦器件和数字隔离器件将并存发展,在各自擅长的应用领域继续增长。但是,技术的发展规律决定了从光耦到数字隔离是未来的发展趋势。

文章来源于:电子工程世界    原文链接
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