罗德与施瓦茨公司的RTO数字示波器可以帮助开发工程师进行电子设计时在时域和频域来分析EMI问题，并且能够帮助定位EMI的产生原因。RTO数字示波器具备极低的输入噪声，在0-4GHz全带宽范围内，灵敏度可以达到1mv/div。RTO实时FFT频谱分析能力，配合近场探头分析诊断EMI问题。

Fig： R&S RTO数字示波器 —— 低噪声前端/高性能FFT铸造出强大的EMI诊断工具

EMI诊断的关键是FFT技术。传统示波器的FFT功能，在频域进行参数设置很困难，并且频谱分析需要很长的时间。由于R&S RTO示波器的FFT操作界面是基于频谱分析仪的，因此用户可以像使用频谱分析仪一样，直接设置参数，包括起始频率，截止频率，带宽分辨率和探测器类型。

强大的FFT技术配合RTO示波器的大存储深度，使得用户可以独立设置时域和频域参数，灵活的在时域和频域进行分析。这些功能使得用户可以尽快发现辐射干扰源。

R&S RTO示波器使用Overlap FFT进行频域分析。重叠FFT技术可以实现对杂散辐射的高灵敏度，能够捕获到偶发杂散频点。示波器首先将被捕获的时域信号分割成若干个时间段，然后分别进行FFT计算得到每一个时间段的频谱，这样能在频谱中捕获到低能量的偶发杂散信号。

然后，对出现频率不同的信号标注以不同的颜色，所有时间段FFT分析频谱组合成完整的频谱。

辐射与偶发的辐射会以标注不同的颜色进行区分。使用不同颜色标示技术的频谱分析能够完美的展示出EMI辐射出现的类型和频率。

加窗FFT技术使用户可以通过在被捕获的信号上自定义一个时间窗口，仅对时间窗口内的信号进行FFT分析，并且通过滑动这个窗口，分析出每一段时域信号与频谱的对应关系。例如，可以使用该技术分析由于开关电源的晶体管过冲导致的EMI问题。确认问题点之后，用户可以迅速对整改后的效果进行验证。

在分析杂散的辐射问题时，模板工具也非常有效。用户在频域定义模板，并对违规信号做相应的设置，这样就可以准确地判断是哪些信号造成了频谱违规。甚至对已经捕获的信号，用户也可以调整FFT参数，例如加窗的大小以及频率分辨率等。如此强大的功能使用户可以对很难捕获到的EMI辐射进行仔细的分析。

R&S RTO示波器凭借其丰富的捕获特性和分析特性，为示波器树立了一个新的标杆。同时，配合以丰富的附件，例如R&S HZ-15近场探头，提供了一整套完善的EMI诊断方案。