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随着5G通信、人工智能、虚拟现实、新能源以及先进封装技术的飞速发展，芯片线宽尺寸不断减小，芯片复杂度不断跃升，对测试机的要求愈加提高。提供多种测试程序并可进行大量的并行测试，有效减少测试成本，缩短产品上市时间，成为测试设备的关键因素。为了进一步提升客户并测数并降低通道成本，加速科技重磅推出了高密度数模混合信号测试系统ST2500E。
早在2019年，加速科技就已率先推出业内自主研发的250Mbps高性能数模混合信号测试系统ST2500，受到市场与客户的双重认可与好评，此次推出的ST2500E在ST2500的量产测试经验基础上，凭借多年积累的自主测试技术资源，进行了全新的优化设计，是测试性能再次升级的又一佳作。
ST2500E作为一台高密度数模混合信号测试系统，通过硬件板卡和软件系统的演进和拓展，不断提高其测试能力和应用范围，在提高测试质量的同时，最大程度上保护用户在设备和技术能力上的投入。
性能强劲的硬件配置
轻松实现高并测
在一台ST2500E上可以配置多达16块DFB32板卡，IO通道数最高支持512通道，512通道PPMU，64通道DPS，根据不同应用场景自由配置不同数量板卡，系统最大可以支持4机台级联，64个功能槽位，最高支持2048Sites并测，具有极高的成本优势。
DFB32板卡具有高达250Mbps数据传输速率，每通道支持192M Vector存储深度，SCAN模式单SCAN Chain高达3GB，采用高端通信架构，支持Pattern加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发，并行测试效率飙出新高度。
自研高效的软件系统
执行效率大幅提升
系统集成的ST-IDE软件，在ST2500前期积累的大量商用经验基础上，结合ST2500在测试领域内重点客户在易用性和测试效率方面的诉求，进行了迭代优化设计。
ST-IDE软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序快速调试，配套丰富的pattern转换工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件转换为测试机pattern，同时支持友商平台pattern转换，有效提高调试效率。
针对工厂量产提供专门GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统，智能软硬件维护系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置。
测试应用场景覆盖广
高集成度构筑高性价比
ST2500E高密度数模混合信号测试系统可以广泛应用于SOC、MCU、FLASH、EEPROM、LED Driver、CIS、PMIC、Bluetooth、WiFi、IoT等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
目前，加速科技ST2500E已实现规模化量产。想了解更多关于ST2500E产品的信息，请于加速科技的销售人员联系。此外，对ST2500E感兴趣的小伙伴，也可联系加速科技申请试用ST2500E demo样机。
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