苏州旗芯微半导体有限公司宣布自研32位车规MCU FC4150家族的多款产品已通过AEC-Q100 Grade 1车规验证标准。

作为旗芯微首个车规产品系列，FC4150家族由公司车规产品专家和国际Tier1大厂根据AEC-Q100标准联合制定实验计划，并由原厂测试工程和设计团队协作开发测试程序，通过与专业的第三方权威实验机构合作完成AEC-Q100全套车规可靠性测试验证，提供了完整详尽的测试数据报告，这标志着旗芯微车规级MCU的性能与可靠性等指标符合国际车规芯片标准，确保产品的一致性，可靠性和安全性，满足汽车电子行业的需求。

  AEC-Q100 Grade1级可靠性验证报告

关于AEC-Q100

AEC-Q100 是由汽车电子协会（AEC）开发的一个质量标准，旨在保证汽车电子零件的可靠性和安全性，能够确保芯片能够承受汽车应用环境的极端温度、湿度、振动和老化测试。AEC-Q100标准主要用于防止产品可能出现各种情况或潜在故障状态，引导零部件供应商在开发过程中使用符合规范的芯片。AEC-Q100 严格确认每个芯片案例的质量和可靠性，确认制造商提出的产品数据表。使用目的、功能说明等功能是否满足初始需求，连续使用后的功能和性能是否一致。

旗芯微执行高于AEC-Q100的标准

旗芯微从设计制造到封装测试全流程严控品质，确保高可靠性和一致性：

· 车规级IP设计，强化Aging余量

· 国际先进的eFlash车规工艺

· 车规级封装BOM和工艺

· 严苛的零缺陷测试流程

· 全流程IATF16949认证工厂

· 6 sigma 品控

旗芯微对FC4150家族产品验证基于AEC-Q100(H)标准之上，结合国际Tier1客户的需求，做了一系列的加严：

· AEC-Q100(H)全部项目由CNAS认证的实验室在授权服务范围内执行

· 实验样品数超过3000pcs，每颗样品都有唯一追踪码和测试记录一一对应，方便数据分析和追踪

· 公司强大的半导体数据分析工具和专业的数据处理团队，实现SPAT/DPAT，SBA以及GDBC等零缺陷方法来满足车规要求

· 环境和寿命老化项目时间两倍于标准，确保15年以上的使用寿命

· HTOL采用电压和温度的双重加速因子，对模拟、数字和存储电路实现动态向量老化测试，并保持连续监控记录，确保有效性

· 对于嵌入式FLASH进行全阵列100K次擦写，150℃下1008小时的数据保持能力测试，确保15年以上的数据保存能力

· IC EMC测试项目除了AEC-Q100(H)要求的辐射发射之外，也开展了辐射抗干扰，传导发射，DPI直接电流注入测试，全部符合战略客户要求

· 全部项目读点都采用三温ATE电性能参数测试， 测试温度达到Tj 150℃，做到全项目可靠性试验前后电性能参数分布和退化分析

FC4150 家族产品简介

FC4150产品系列是基于Cortex-M4F内核的高性能车规级MCU，支持ASIL-B功能安全等级，通过AEC-Q100 测试认证，为Grade 1等级。FC4150 产品系列适用于汽车的BCM、BCM+、BMS、照明、电机控制、HVAC、TPMS和T-BOX等应用。目前，旗芯微FC4150产品系列已量产出货。详情请联系旗芯微销售和代理商。

 FC4150F2M框图

FC4150产品家族特性列表

关于旗芯微半导体

苏州旗芯微半导体有限公司成立于2020年10月，基于ARM Cortex M4、M7等系列架构构建面向汽车不同应用场景的高性能、高可靠性的片上系统，开发智能汽车高端控制器芯片。通过采用自研IP，多核锁步等技术以及车规芯片的六西格玛模拟电路设计流程，设计出覆盖安全标准ISO26262 ASIL-B至ASIL-D的全系列产品家族。公司产品均满足车规AEC-Q100、功能安全标准ISO26262以及各项车规可靠性测试，可广泛应用于车身、汽车仪表、安全、动力、电池管理等领域。