半导体行业观察推荐免费参会 – EDI CON China (上海) 电子设计创新大会2017

发布时间:2017-04-18  

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学习最新的高频和高速设计、仿真和测试技巧就在EDI CON China 2017。EDI CON China 2017将于4月25-27日在上海跨国采购会展中心举行。来自全世界的专家将为您带来新的更充实的研习会和培训课程。点击文末 阅读原文 立刻注册报名, 在注册时输入VIP码“ SEMI17”可免费参会。

射频/微波、电磁兼容/电磁干扰和高速数字会

雷达和高频/高速会议

电磁兼容培训课程

详细议程

星期二,4月25日, 2017 • 9:20 – 10:00

5G Advanced Communications

Room: 307A

铺好通往5G之路

Fangze Tu, National Instruments

Room: 305A

三安集成的砷化镓和氮化镓量产技术

John Wang, Xiamen San’an Integrated Circuit Co

Room: 305B

5G应用中PTFE多层板的选材和加工

Oliver Zhu, Taconic

Room: 307B

适用于太赫兹应用领域的全球领先III/V MMIC工艺路线图

Marc Rocchi, OMMIC/Sichuan YiFeng Electronic Science & Technology Co. Ltd.

星期二,4月25日, 2017 • 10:30 – 12:00

Room: 302

迎接下一波移动数据浪潮的半导体技术

Peter Rabbeni, GLOBALFOUNDRIES

Room: 302

新频谱对设计和测试的影响

Satish Dhanasekaran, Keysight

Room: 302

5G OTA:抛弃电缆

Corbett Rowell, Rohde & Schwarz

5G的中心原则之一是使用大规模MIMO并通过将无线电收发器与天线集成来提高频谱和能量效率,从而创建结合MU-MIMO与波束赋形的有源天线阵列。在这些系统中不再配有专用外部RF测试端口,只能采用新的测试方案,其中大多数无线电和天线将仅通过OTA测量。在这次主旨演讲中,将简要介绍大规模MIMO部署和测量面临的挑战,重点是在6GHz以下和毫米波频段内进行研发和生产所需的OTA测量。

Room: 302

从AC转变到AX,从4.5转变到5G:希望、技术和挑战

Jason White, National Instruments

星期二,4月25日, 2017 • 13:00 – 13:20

Amplifiers

Room: 307B

用于LTE-A的高线性CMOS功率放大器和追踪器

Florinel Balteanu, Skyworks Solutions

Measurement & Modeling Room: 305B

材料介电常数和磁导率的先进测量技巧

Ryoji Takizawa, Keysight

Radar/Communications

Room: 307A

900瓦L波段氮化镓晶体管

Weishu Zhou, Microsemi

5G Advanced Communications

Room: 305A

5G移动通信中的极化码研究

xiaofeng shi, Rohde & Schwarz

Measurement & Modeling

Room: 302A

1个10瓦氮化镓功率晶体管的带谐波阻抗控制的任意负载阻抗下的X参数提取的经验之谈

Liu Di, Keysight

星期二,4月25日, 2017 • 13:25 – 13:45

RF & Microwave Design

Room: 302A

平面电阻在5G功分器和高速互联中的应用

Helena Li, Shanghai Gentronics Electronics. Ltd.

5G Advanced Communications

Room: 305A

针对5G毫米波设备测试的超宽带信号幅相校正方法

Feng Lee, Keysight Technologies

Radar/Communications

Room: 307A

可扫描相控阵收发前端模块之电磁与电路协同仿真

Milton Lien, AWR Corporation

Amplifiers

Room: 307B

一种新型基于阻抗补偿技术的3.4-3.8GHz宽带Doherty功率放大器

Rui Ma, Mitsubishi Electric Research Labs

Measurement & Modeling

Room: 305B

实时频谱监测面面观

Fangze Tu, National Instruments

星期二,4月25日, 2017 • 13:50 – 14:10

Measurement & Modeling

Room: 305B

查找设计中的串扰问题的新方法

Min Jie Chong, Keysight Technologies

5G Advanced Communications

Room: 305A

MIMO OTA多探头测试方案

志华 张, 北京中科国技信息系统有限公司/hwa-tech Information System company

Radar/Communications

Room: 307A

雷达和接收机测试用RF环境的生成

Steffen Heuel, Rohde & Schwarz

Amplifiers

Room: 307B

一种应用于基站的硅基氮化镓三路Doherty功率放大器设计

Xin Liu, macom

星期二,4月25日, 2017 • 13:50 – 15:00

RF & Microwave Design

Room: 302A

固态射频能量:2017年终将取得大量突破,不是吗?

Klaus Werner, RF Energy Alliance

星期二,4月25日, 2017 • 14:15 – 14:35

Measurement & Modeling

Room: 305B

手机前端模块的最近发展趋势以及噪声系数测试

Hong-Liang Gu, Keysight

Amplifiers

Room: 307B

固态功放的新前沿:空间合成功放

Maurizio D’Antoni, Mitec

5G Advanced Communications

Room: 305A

射频绝缘体上硅技术保障可靠的5G波束赋形

Charles Gui, Peregrine Semiconductor

Radar/Communications

Room: 307A

汽车雷达干扰试验

Steffen Heuel, Rohde & Schwarz

星期二,4月25日, 2017 • 14:40 – 15:00

5G Advanced Communications

Room: 305A

5G终端设计验证及测试挑战

XIN LI, Keysight

Measurement & Modeling

Room: 305B

一种构建射频放大器/前端模块(RF PA/FEM)测试系统的新方法

Jianhui Wang, Keysight

Radar/Communications

Room: 307A

使用先进的行为模型和仿真/测量的辐射元件为大型相控阵天线系统建模

Gent Paparisto, AWR Group/National Instruments

Amplifiers

Room: 307B

内置0.5μm GaAs E-pHEMT线性器的MMIC E类自适应偏置功率放大器的设计

Shanthi P, R.V.COLLEGE OF ENGINEERING

星期二,4月25日, 2017 • 15:20 – 16:00

Measurement & Modeling

Room: 305A

从基于矢量波形测试的负载牵引到非线性行为级模型

Xianfu SUN, Focus Microwaves

High-Speed Digital Design

Room: 307A

PCIE高速通道中的过孔设计优化

Kezhou Li, ANSYS

5G Advanced Communications

Room: 305B

Verizon 5G和3GPP新空口的信号产生和分析

Jian Wang, Rohde & Schwarz

Room: 307B

E-Foundry为客户带来全新服务体验

Fan 范 Chanling 长林, Chengdu Hiwafer

Measurement & Modeling

Room: 302A

新型高性能测试电缆组件、毫米波集束电缆组件和航空用高速数据电缆组件

Wei Liu, Mitron

星期二,4月25日, 2017 • 16:05 – 16:45

Measurement & Modeling

Room: 305A

负载牵引:模型提取、验证和设计的关键工具

David Li, Maury

High-Speed Digital Design

Room: 307A

使用串行和并行接口连接FPGA和高速数据转换器

Marc Stackler, e2v

5G Advanced Communications

Room: 305B

基于软件定义无线电技术的便携式MIMO测试平台

Hanchao Liu, Sample Technology Shanghai R&D Center

5G Advanced Communications

Room: 302A

大规模MIMO原型和MIMO OTA测试

Zhu Wen, Keysight

Room: 307B

三安集成三五族半导体代工服务

Jasson Chen, Xiamen San’an Integrated Circuit Co

星期二,4月25日, 2017 • 16:50 – 17:30

Measurement & Modeling

Room: 305A

通过创新的建模方法缩短关键射频前端模块电路的设计周期

Haiying Deng, GlobalFoundries

5G Advanced Communications

Room: 305B

哪项技术更适合初期的5G系统:低于6GHz的大规模MIMO还是毫米波?

Patrick Hindle, Microwave Journal

Room: 302A

拓展二端口网络分析仪应用的开关矩阵多端口自动化测试系统

Zhang Hong, Mini Circuits/Mitron

Room: 307B

能讯氮化镓功放管技术和产品

Tom Gao, Dynax Semiconductor

星期三,4月26日, 2017 • 9:00 – 9:20

RF & Microwave Design

Room: 302A

射频和微波器件中杂散搜索的先进技术

Martin Schmaehling, Rohde & Schwarz

Systems Engineering

Room: 305B

解决5G的多信道、宽带测试和数据管理问题

DETOMASI SHERI, Keysight

5G Advanced Communications

Room: 307B

针对未来连接设备的新型无线技术

Jason White, National Instruments

Measurement & Modeling

Room: 305A

将微波频率仪器扩展应用到毫米波测量的技术

Wei Lin, National Instruments

IoT Design

Room: 307A

智能手表的电磁和结构协同设计

Cier Siang Chua, CST

星期三,4月26日, 2017 • 9:25 – 9:45

5G Advanced Communications

Room: 307B

具有波束赋形网络的紧凑型相控阵,用于基于液晶聚合物基板的 60 GHz 5G MIMO 系统

Anil Pandey, Keysight Technologies

RF & Microwave Design

Room: 302A

具有相位检测器本底噪声退化的多偏移PLL合成器

Alexander Chenakin, Micro Lambda Wireless, Inc.

IoT Design

Room: 305A

低功率广域网在物联网应用中的挑战及测试解决方案

Jian Li, Keysight Technologies

Systems Engineering

Room: 305B

构建一个多GHz实时RF流系统

Shivansh Chaudhary, National Instruments

IoT Design

Room: 307A

用于射频识别 (RFID) 测试的信道模拟

Hui Shao, JX Instrumentation Co Ltd

星期三,4月26日, 2017 • 10:10 – 10:30

High-Speed Digital Design

Room: 305A

PCB 设计误区 之时序设计

Bruce/均 Wu/吴, Edadoc

EMC/EMI

Room: 307A

为关键EMI信号更快检测而优化的实时测试设备

Volker Janssen, Rohde & Schwarz

Measurement & Modeling

Room: 305B

一种用于终端性能测试的搭载于OTA暗室的外场无线环境建模方法

An Xudong, China Academy of Information and Communication Technology

5G Advanced Communications

Room: 307B

802.11ax简介:高效Wi-Fi

Alejandro Buritica, National Instruments

RF & Microwave Design

Room: 302A

无线通信基础设施的高性能板材选型

Art Aguayo, Rogers Corporation

星期三,4月26日, 2017 • 10:35 – 10:55

RF & Microwave Design

Room: 302A

关于CMOS和SOI的射频模块

Malcolm Smith, AnalogSmith Design Solutions LLC

High-Speed Digital Design

Room: 305A

基于VNA的高速PCB快速精确测试

Hongwen Yang, Rohde & Schwarz

5G Advanced Communications

Room: 307B

用于 5G 仿真的软件定义无线电技术

Hongwei Kong, Keysight Technologies

Measurement & Modeling

Room: 305B

高级PA测试技术:用于DPD、ET和测量加速的高级技术

Alejandro Buritica, National Instruments

EMC/EMI

Room: 307A

用于下一代技术5G、物联网和车载电子的EMC解决方案

Sangam Baligar, AR RF/Microwave Instrumentation

星期三,4月26日, 2017 • 11:00 – 11:20

High-Speed Digital Design

Room: 305A

基于矢量网络分析仪的信号完整性测量

Fei Yu, Rohde & Schwarz (China) Technology Co., Ltd

EMC/EMI

Room: 307A

EMC多频点抗干扰测试方案

志华 张, 北京中科国技信息系统有限公司/hwa-tech Information System company

RF & Microwave Design

Room: 302A

工作在180-190GHz的超高效高功率肖特基二极管倍频器

Michael Crowley, PRINCIPAL ENGINEER

Measurement & Modeling

Room: 305B

毫米波空中(OTA)测试挑战

Prasadh Ramachandran, Keysight Technologies

5G Advanced Communications

Room: 307B

应用在移动终端设备上面的5G天线

Bin Yu, Speed Wireless Technology Co., Ltd

星期三,4月26日, 2017 • 11:25 – 11:45

High-Speed Digital Design

Room: 305A

400G以太网中PAM-4信号的挑战及测试方法

Li Kai, Keysight

EMC/EMI

Room: 307A

汽车电子的电磁兼容检测技术探讨

Cinya Tu, Institute of EMC & Electronic Measurement, EVERFINE Instrument Co., Ltd.

5G Advanced Communications

Room: 307B

利用OTA功率传感器进行波束赋形设备的校正

Frank-Werner Thuemmler, Rohde & Schwarz

星期三,4月26日, 2017 • 13:00 – 13:40

5G Advanced Communications

Room: 305B

60GHz无线系统的场路协同仿真设计

Yunhui Xiao, ANSYS

Measurement & Modeling

Room: 305A

下一代WLAN技术以及测试挑战和方案

Xiang Feng, Keysight Technologies

IoT Design

Room: 307A

窄带物联网:运营模式和用例

Muthu Kumaran, Keysight Technologies

Room: 307B

无线通信基础设施的高性能板材选型

Art Aguayo, Rogers Corporation

Room: 302A

e2v高可靠性半导体的核心设计解决方案

Marc Stackler, e2v

星期三,4月26日, 2017 • 13:45 – 14:25

RF & Microwave Design

Room: 305A

带有FSS次反射面的大型卡塞格伦天线仿真

Yong Yuan, ANSYS

Radar/Communications

Room: 307B

下一代汽车的新挑战

马 Lisi 力斯 Ma, 美国国家仪器 National Instruments

Systems Engineering

Room: 307A

移动基础设施的发展趋势

Gary Lerude, Microwave Journal

Room: 302A

信号完整性和EMC的高级PCB规则检查

Chun Tong Chiang, CST

星期三,4月26日, 2017 • 14:50 – 15:30

Measurement & Modeling

Room: 305B

针对高效射频功率放大器电路设计的实用测量方法以及非线性建模

Tony Gasseling, Maury Microwave

RF & Microwave Design

Room: 305A

应用于商用基站的硅基氮化镓Doherty功率放大器设计

Xin Liu, macom

5G Advanced Communications

Room: 307A

用于5G MIMO信道仿真的宽带幅相控制矩阵

Wei Liu, Mitron

Room: 302A

射频氮化镓的未来展望:应用和性能

Gary Lerude, Microwave Journal

Measurement & Modeling

Room: 307B

用RAPID解决方案对Cardiff Model +的偏置和频率插值进行研究

Xianfu SUN, Focus Microwaves

星期三,4月26日, 2017 • 15:35 – 16:15

RF & Microwave Design

Room: 305B

支持无线通信的多工艺射频模块之设计流程及仿真技术

Milton Lien, National Instruments, AWR Group

RF & Microwave Design

Room: 305A

PIN二极管的单片替代品——RF SOI功率限制器&开关

Eric Song, Peregrine Semiconductor

Room: 307A

5G OTA测量

jian/健 luo/罗, R&S公司

RF & Microwave Design

Room: 307B

射频和微波同轴开关:如何用机电装置达到1000万次周期

Vonie SUN, Radiall

星期三,4月26日, 2017 • 16:20 – 17:00

Measurement & Modeling

Room: 305B

评测高频宽带宽器件射频性能的挑战

Randy Becker, Keysight Technologies

RF & Microwave Design

Room: 305A

应用于5G Massive MIMO的宽带,低功耗放大器

Angela Wang, IDT

Room: 307A

解决4.5G PA和设备测量的测试挑战

Jason White, National Instruments

Room: 307B

新的场强探头和功率计在辐射抗扰度测试中的应用

Jiankun Xu, Beijing Xutec

星期四,4月27日, 2017 • 9:00 – 9:40

Room: 305B

用于5G的革命性滤波器/IPD技术

Ming Hao Yan, Mini-Circuits

Room: 305A

无线通信里的信号链创新解决方案

Zhang Yong, ADI

Room: 307A

一种适用于高频收/发MMIC芯片的高输出功率、低噪声系数硅基氮化镓工艺技术

Marc Rocchi, OMMIC/Sichuan YiFeng Electronic Science & Technology Co. Ltd.

星期四,4月27日, 2017 • 9:45 – 10:05

Systems Engineering

Room: 305A

WiGig:802.11ad即将来临,测试设备还未跟上,这对我们意味着什么?

Wei Lin, National Instruments

High-Speed Digital Design

Room: 305B

高速串行总线无源通道建模及校准

Bruce/均 Wu/吴, Edadoc

RF & Microwave Design

Room: 307B

面向大规模射频开关的智能型开关管理系统的设计与实现

Wang Qi, Pickering Interfaces

Measurement & Modeling

Room: 307A

50GHz以上的相位噪声测量

Wolfgang Wendler, Rohde & Schwarz

星期四,4月27日, 2017 • 10:10 – 10:30

High-Speed Digital Design

Room: 305B

电源完整性对DDR4/LPDDR4系统的影响

Jennie Grosslight, Keysight Technologies

Systems Engineering

Room: 305A

尽量减少噪声系数测量中的不确定性

Wei Lin, National Instruments

Measurement & Modeling

Room: 307A

用矢量网络分析仪进行探针表征的创新方法

Andrew Ko, KeySight Technologies Ltd

RF & Microwave Design

Room: 307B

灵活运用于中端智能手机的射频解决方案

Mike Zhang, Qorvo

星期四,4月27日, 2017 • 10:50 – 11:10

Measurement & Modeling

Room: 305A

时域脉冲波经线天线辐射的拖尾效应研究

SHI PU, Wuhan University of Technology

RF & Microwave Design

Room: 307A

混合型实时负载牵引系统大反射条件下的系统精度验证

Xianfu SUN, Focus Microwaves

Radar/Communications

Room: 305B

汽车雷达目标仿真器

Hieng Ling Tie, Keysight

5G Advanced Communications

Room: 307B

使用相控阵模型的5G通信系统仿真方法

Shuai Zhang, Keysight

星期四,4月27日, 2017 • 11:15 – 11:35

Measurement & Modeling

Room: 305A

低频1/f噪声和随机电报噪声的在片测量与分析

Ma Long, Keysight Technologies

RF & Microwave Design

Room: 307A

DOCSIS 3.1部分频谱削波技术

Maxwell Huang, Cisco Systems

Radar/Communications

Room: 305B

复杂脉冲场景 – 当ARB的大小有限时,如何用高采样率实现信号的长时间播放?

Frank-Werner Thuemmler, Rohde & Schwarz

Measurement & Modeling

Room: 307B

3D MIMO基站性能的新型实验室测试技巧

Huaizhi Yang, Keysight

星期四,4月27日, 2017 • 11:40 – 12:00

Measurement & Modeling

Room: 305A

非线性参数测试的新方法

Zong Huiqing, Rohde&Schwarz(China)Technology Co.Ltd

Radar/Communications

Room: 305B

解决下一代ADAS车辆结构的测试挑战

Alejandro Buritica, National Instruments

RF & Microwave Design

Room: 307A

毫米波应用的圆极化反足费米锥形槽天线

Abdel Sebak, Concordia University

Systems Engineering

Room: 307B

利用软件架构搭建云测试平台

Shanshan Cong, Keysight

责任编辑:mooreelite
文章来源于:半导体行业观察    原文链接
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