手头正好有电机控制方面的项目,准备选型一款合适的MCU,而G4系列典型应用之一正是电机控制,不巧的是收到开发板时订购的BLDC评估板一时半会还到不了手,临时改变评测项目,已经量产的工业仪器MCU替换为G474,看功能和性能方面是否可以达到或超越现有的MCU。
到手的Nucleo-G474开发板,先来张特写。
Nucleo-G474的板载烧写器MCU已经不是传统的STM32F103了,而是升级到了STM32F723,唯一遗憾的是烧写器和主板是一体的了,不是传统的间断连接方式,不能和主板分离,成为一个单独的烧写器。
为方便测试,且最大限度保护好Nucleo-G474原板,不直接在原板上焊接连线,特地打了1片专用测试板。这里要感谢下深圳某创PCB专业制造公司,速度快,还便宜,只要5块钱,且SF包邮(前提是尺寸不能超过10X10CM)。测试板上包括本次评测要用的外围电路,包括指示灯、RS232串口、DA、AD、CAN-FD,其中CAN-FD将放在后期测试。
首先测试传统的点灯,板载Led和自制Led交替点亮。用CubeMX配置好硬件资源,keil5编译程序,然后将程序下载到Nucleo-G474开发板,注意初次擦除烧写会报错,解决方法是从官网下载STSW-LINK007升级,就可以下载程序了。
程序运行效果如下所示:
接下来就是测试最主要的部分,手头已量产的产品是专用的传感器,MCU通过DA模块输出控制电压(电压大小需根据不同的环境可调),AD模块采集不同的被检测对象所对应的模拟量大小并转换成数字量,主控程序根据采集到的数字量大小,输出对应的控制。
CubeMX配置G474的资源如下图所示:
Main主程序:
int main(void)
{
/* USER CODE BEGIN 1 */
button_no = 0;
/* USER CODE END 1 */
/* MCU Configuration--------------------------------------------------------*/
/* Reset of all peripherals, Initializes the Flash interface and the Systick. */
HAL_Init();
/* USER CODE BEGIN Init */
/* USER CODE END Init */
/* Configure the system clock */
SystemClock_Config();
/* USER CODE BEGIN SysInit */
/* USER CODE END SysInit */
/* Initialize all configured peripherals */
MX_GPIO_Init();
MX_TIM3_Init();
MX_UART4_Init();
MX_ADC2_Init();
MX_DAC2_Init();
/* USER CODE BEGIN 2 */
if (HAL_DAC_Start(&hdac2, DAC_CHANNEL_1) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
if (HAL_DAC_SetValue(&hdac2, DAC_CHANNEL_1, DAC_ALIGN_12B_R, 1024) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
if (HAL_ADC_Start(&hadc2) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
AD_Sample = 0;
AD_Sample = HAL_ADC_GetValue(&hadc2);
__HAL_ADC_CLEAR_FLAG(&hadc2, ADC_FLAG_EOS);
/* USER CODE END 2 */
/* Infinite loop */
/* USER CODE BEGIN WHILE */
while (1)
{
/* USER CODE END WHILE */
/* USER CODE BEGIN 3 */
if (HAL_GPIO_ReadPin(B2_GPIO_Port, B2_Pin) == 0x01U)
{
button_no = 0x01U;
}
else
button_no = 0x00U;
HAL_GPIO_TogglePin(LD2_GPIO_Port, LD2_Pin);
HAL_GPIO_TogglePin(LD3_GPIO_Port, LD3_Pin);
if (HAL_ADC_Start(&hadc2) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
HAL_Delay(50);
AD_Sample = 0;
if (HAL_ADC_PollForConversion(&hadc2, 10) == HAL_OK)
{
AD_Sample = HAL_ADC_GetValue(&hadc2);
sprintf(aTxBuffer,"AD value = %5d ",AD_Sample);
if (HAL_UART_Transmit(&huart4, (uint8_t *)aTxBuffer, 26, 5000) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
__HAL_ADC_CLEAR_FLAG(&hadc2, ADC_FLAG_EOS);
/* Insert delay 100 ms */
if (HAL_ADC_Stop(&hadc2) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
if (button_no == 0x00U)
HAL_Delay(2000);
else
HAL_Delay(100);
}
}
/* USER CODE END 3 */
}
测试结果:
下图为传感器中没有被检测对象时采集到的数据:
检测较小物体时采集到的数据:
检测较大物体时采集到的数据:
以上所有检测数据为每秒采集一次,通过RS232串口传输到PC显示,该数据为AD模块的原始数据,分辨率12bit,未经任何算术平均以及数字滤波处理。从采集的结果看,AD模块的精度完全满足项目的需要。
由于时间不是很充裕,G474的很多优异性能尚未加以测试,尤其项目中要用的CAN总线,由于G4系列的CAN已升级为CAN-FD,手头尚没有对应的带CAN-FD的上位机进行测试,只能留待后期硬件条件具备时再做进一步测试。