莱塔思光学发布超快插损测试仪 1秒完成多通道插损测试

发布时间:2023-10-01  

【导读】插损的测试在多光纤连接器的制程中是必不可少的重要工序。目前市场上的多光纤插回损测试仪都是基于光开关,完成12通道的测试最少需要20秒以上的时间,慢的甚至需要1分钟才能完成,显著影响了生产效率。


莱塔思光学针对多光纤连接器测试仪速度慢的问题,发明了一款超快测试仪,测试速度比现有的产品快10倍以上,大大提升了测试工序的效率。能做到不到1秒钟就完成12通道的插损测试。常用的通道数有12 、 16、 24 、32、48可供选择。


此超快测试仪采用了全新的工作原理(已申请发明专利),不是基于光开关。在测试过程中光路完全不变化,因此重复测试时插损变化量绝对为零。这款测试仪可以作为校准设备,校准其他厂家的测试仪。


在光源输出界面也一改传统的单光纤FC接口输出方式,采用自家独创的非接触MPO和预松弛MPO光纤连接器(MJC)这两款先进光纤连接器作为光源输出接口,能大大降低设备接口损坏问题,延长插拔寿命。输出输入面板非常简洁,操作连接也非常方便。


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超快测试仪照片


莱塔思光学是一家专注于光纤连接器产品研发、生产及销售的高科技企业,由留美博士创立。公司总部位于浙江宁波,在美国硅谷、深圳均设有全资子公司。


莱塔思光学在世界光纤连接器行业有一系列影响深远的发明,居于技术领导地位。公司已经连续推出了多款颠覆性发明:非接触光纤连接器、预松弛MPO光纤连接器(MJC)、超小型MT插芯光纤连接器(MTC)、MT转MPO适配器。莱塔思光学立足光通讯市场,在光连接器、测试设备、技术服务等方面为客户提供领先的解决方案。



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