特性
- 超低功耗：VS = 2.6 V（典型值）时，测量模式下低至23 μA，待机模式下低至0.2 μA
- 功耗随带宽自动按比例变化
-
用户可选的分辨率
10位固定分辨率
全分辨率，分辨率随 g 范围提高而提高， ±16 g 时达到最高分辨率13位（在所有 g 范围内保持4 m g /LSB 的比例系数） - 正在申请专利的嵌入式存储器管理系统采用FIFO技术，可将主机处理器负荷降至较低
- 单击/双击检测
- 活动/非活动监控
- 自由落体检测
- 方向检测功能支持四位置和六位置同时检测
- 电源和I/O电压范围：1.7 V至2.75 V
- SPI（3线和4线）和I 2 C 数字接口
- 灵活的中断模式，可映射到任一中断引脚
- 欲了解更多特性，请参考数据手册
ADXL346是一款小而薄的超低功耗3轴加速度计，分辨率高（13位），测量范围达±16 g。数字输出数据为16位二进制补码格式，可通过SPI（3线或4线）或I 2 C®数字接口访问。
ADXL346非常适合移动设备应用。它可以在倾斜检测应用中测量静态重力加速度，还可以测量运动或冲击导致的动态加速度。它具有高分辨率(4 m g /LSB)，能够分辨不到1.0°的倾斜度变化。
该器件提供多种特殊检测功能。活动和非活动检测功能通过比较任意轴上的加速度与用户设置的阈值来检测有无运动发生。敲击检测功能可以检测任意方向的单击和双击动作。自由落体检测功能可以检测器件是否正在掉落。方向检测功能可以同时进行四位置和六位置检测，并在方向变化时提供用户可选的中断功能，适用于2D或3D应用。这些功能可以独立映射到两个中断输出引脚中的一个。正在申请专利的集成式存储器管理系统采用32级先进先出(FIFO)缓冲器，可用于存储数据，从而将主机处理器负荷降至较低，并降低整体系统功耗。
低功耗模式支持基于运动的智能电源管理，从而以极低的功耗进行阈值感测和运动加速度测量。
ADXL346采用3 mm × 3 mm × 0.95 mm、16引脚小型超薄塑封封装。
应用
- 手机
- 医疗仪器
- 游戏和定点设备
- 工业仪器仪表
- 个人导航设备
- 硬盘驱动器(HDD)保护
数据手册 1
用户手册 1
应用笔记 5
技术文章 1
评估设计文件 2
产品信息 1
器件驱动器 2
模拟对话 2
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的 质量和可靠性计划和认证 以了解更多信息。
| 产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号，脚注和 3D模型 |
|---|---|---|---|
| ADXL346ACCZ-RL |
16-Lead LGA (3mm x 3mm)
|
|
|
| ADXL346ACCZ-RL7 |
16-Lead LGA (3mm x 3mm)
|
|
根据型号筛选
重置过滤器
产品型号
产品生命周期
PCN
12月 6, 2013
- 13_0321
ADXL345, ADXL346, ADXL337 Die Revision
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
10月 17, 2013
- 13_0021
Qualification of Second Source Supplier for Seal Glass on Capped iMEMS Devices
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
8月 28, 2012
- 12_0203
Transfer ADXL346 Sensor Wafer Fabrication to the TSMC 8" MEMS Only Process
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
10月 31, 2011
- 11_0054
Addition of Advanced Semiconductor Engineering (ASE) Korea as an alternate source and transfer of ADXL346 LGA package
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
5月 27, 2011
- 11_0091
ADXL346 Die Revision
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
根据型号筛选
重置过滤器
产品型号
产品生命周期
PCN
12月 6, 2013
- 13_0321
ADXL345, ADXL346, ADXL337 Die Revision
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
10月 17, 2013
- 13_0021
Qualification of Second Source Supplier for Seal Glass on Capped iMEMS Devices
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
8月 28, 2012
- 12_0203
Transfer ADXL346 Sensor Wafer Fabrication to the TSMC 8" MEMS Only Process
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
10月 31, 2011
- 11_0054
Addition of Advanced Semiconductor Engineering (ASE) Korea as an alternate source and transfer of ADXL346 LGA package
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
5月 27, 2011
- 11_0091
ADXL346 Die Revision
ADXL346ACCZ-RL
ADXL346ACCZ-RL7
量产
器件驱动器
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评估套件 4
EVAL-MST-ISEB
用于数字输出传感器的实时评估系统
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EVAL-ADXL346-ISEB
ADXL346-ISEB Evaluation Board
EVAL-ADXL346Z-DB
ADXL346DB评估板
EVAL-ADXL346Z
ADXL346 分线板
