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特性
- 高共模瞬变抗扰度： 100 kV/µs
- 对辐射和传导噪声的高抗干扰能力
-
低传播延迟： 13 ns（最大值，5 V 工作电压）
- 15 ns（最大值，1.8 V）
- 最大数据速率：150 Mbps
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安全和法规认证（申请中）
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UL 认证
- 1分钟5000 V rms，符合UL 1577标准
- CSA 元件验收通知 5A
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VDE 合格证书
- DIN V VDE V 0884-10 (VDE V 0884-10):2006-12
- V IORM = 849 V峰值
- 增强浪涌隔离电压：8000 V峰值(V IOSM )
- CQC 认证符合 GB4943.1-2011
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UL 认证
- 低动态功耗
- 1.8 V 至 5 V 电平转换
- 工作温度最高可达： 125℃
- 故障安全高或低选项
- 符合 RoHS 标准的 16 引脚 SOIC 封装
ADuM230D/ADuM230E/ADuM231D/ADuM231E1均为采用ADI公司iCoupler ® 技术的三通道数字隔离器。 这些隔离器件将高速、互补金属氧化物半导体(CMOS)与单芯片空芯变压器技术融为一体，具有优于光耦合器件和其它集成式耦合器等替代器件的出色性能特征。 这些器件的最大传播延迟为13 ns，在5 V下脉冲宽度失真小于3 ns。 具有严格的3.0 ns（最大值）通道匹配。
ADuM230D/ADuM230E/ADuM231D/ADuM231E数据通道属于独立式通道，提供多种配置选择，可承受5.0 kV rms的电压额定值（请参见“订购指南”）。 这些器件均可采用1.8 V至5 V电源电压工作，与低压系统兼容，并且能够跨越隔离栅实现电压转换功能。
与其它光耦合器不同，可确保不存在输入逻辑转换时的直流正确性。 它们提供两种不同的故障安全选项，输入电源未用或输入禁用时，输出转换到预定状态。
应用
- 通用多通道隔离
- 串行外设接口(SPI)/数据转换器隔离
- 工业现场总线隔离
解决方案设计及宣传手册 1
产品选型指南 1
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的 质量和可靠性计划和认证 以了解更多信息。
| 产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号，脚注和 3D模型 |
|---|---|---|---|
| ADUM230D0BRIZ |
16-Lead SOIC (Increased Creepage)
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| ADUM230D0BRIZ-RL |
16-Lead SOIC (Increased Creepage)
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| ADUM230D0BRWZ |
16-Lead SOIC Wide
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| ADUM230D0BRWZ-RL |
16-Lead SOIC Wide
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| ADUM230D1BRIZ |
16-Lead SOIC (Increased Creepage)
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| ADUM230D1BRIZ-RL |
16-Lead SOIC (Increased Creepage)
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| ADUM230D1BRWZ |
16-Lead SOIC Wide
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| ADUM230D1BRWZ-RL |
16-Lead SOIC Wide
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| 部分模型 | 产品周期 | 描述 |
|---|---|---|
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推荐新设计使用 |
5.7 kV/3.0 kV rms四通道数字隔离器 |
评估套件 2
EVAL-ADUMQS
EVAL-ADUMQS
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EVAL-3CH4CHEBZ
针对三通道和四通道标准数据隔离器的通用评估板，采用16引脚SOIC封装
工具及仿真模型 1
IBIS 模型
文章来源于:analog.com 原文链接
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