有人使用STM32F103系列想实现如下需求，碰到些许配置困难。【因没说完整型号，这里假定为STMF103R8来聊。其实，对于下面话题，它是什么型号已经不重要了，后面话题重点跟芯片型号基本无关。】

现在欲配置一个ADC采样，配置Timer1通道1，2，3输出三路PWM，同时想用Timer3的TRGO通道触发ADC，要求ADC在三路PWM输出高电平中间点采样【即下图红色箭头所指位置】。目前已经知道配置方式是Timer1配置成中央对齐方式，然后ADC使能外部触发，为了观察是否在高电平中间点采样，在ADC中断做了一个IO口翻转操作，现在观察PWM和IO口波形，发现IO口翻转还是在PWM高电平上升沿时出现，那么 该怎么配置呢?

要实现上面PWM输出，我们可以考虑STM32芯片内的高级定时器【TIM1或TIM8】，并让更新事件发生在上面箭头所指位置，同时将该更新事件作为ADC的触发启动信号那就最方便了。

这样是否可行，我们还得具体看看硬件资源上是否支持。

我们通过CubeMx可以快速查到,对于TIMER1的事件，这里的ADC仅支持它的前3个通道的比较事件来触发它。因为这里选定要在那个中心点做触发，那选择3个比较通道的任一个都不太合适。

如果说ADC支持TIM1的第4个通道的话，我们倒还可以用用它，但这里也不支持。

从上面截图可以看到，ADC是支持来自TIM3的TRGO触发信号的。既然这样，如果将TIM1、TIM3主从级联起来，让TIM3与TIM1同步计数、并使用相同的计数周期，让TIM3的更新事件发生在TIM1 PWM输出的中心点，这样按理应该是可以的。

为了验证这点，因为手上没有F1系列开发板，找了块F411的开发板来做测试。其外设方面跟F103系列比较接近。

通过查看手册，TIM1/TIM3可以主从级联起来。TIM1的TRGO可以作为TIM3的触发输入信号。

这里我们让TIM1的更新事件作为TIM3的触发启动信号，即让TIM3工作在Trigger mode，让TIM1启动TIM3. 这里令TIM1->ARR=10000, TIM3->ARR=20000，TIM1工作在中心对齐计数模式，TIM3工作在向上单向计数模式。TIM1的更新事件产生TRGO作为TIM3的触发输入信号。通过TIM3的更新事件触发ADC转换。

TIMER1相关参考配置如下：

TIMER3相关参考配置如下：

ADC部分配置代码，这里只是开启了内部Vrefint通道。主要验证ADC触发时间点。

配置OK后组织如下用户代码。【注意：眼尖的人会发发现代码里看到不到启动TIM3的语句。另外，我开启TIM3的更新中断是为了在那里基于某gpio输出个尖峰脉冲便于观察。】

测试结果发现，采样点不是每个周期都有，而变成2个周期才有，ADC转换结果倒是出来了，是下面的样子：【黄色尖峰表示采样触发点】

这样看起来，明显感觉TIM3与TIM1的时钟相差了1倍，也就说TIM3要比TIM1慢1倍。难道二者所在外设时钟不一样？这个要看看手册确认下。

从手册上看，TIM1/TIM3挂在不同的外设总线APB1和APB2上，总线时钟上限不一样。我们再看看CubeMx里的配置：

从上图时钟树来看，APB1分频系数为4，导致挂APB1上的TIM3的时钟才48MH,而挂APB2上的TIM1的时钟则是96MHz,这样导致了TIM1/TIM3的计数时钟不一样，前面设计时误以为二者一样了。那我把APB1分频系数由4改成2应该是可以的。只调整这个地方，其它不动再做测试。

调整后，效果立竿见影，不再每两个周期才采样一次，采样点似乎也没啥问题。

不对，瞧着示波器多观察会儿就会发现输出不对劲！感觉那个采样点相对于PWM输出波形在做漂移！刚开始以为示波器问题，细看明显不是，因为二者是相对移动，即采样点并不固定在PMW输出的中心位置。【如下图所示】

基于上面的初步设计，2个定时器应该是可以严格同步的，这样的话采样点不该偏移啊？难道上面2个TIMER的时间参数哪里有问题？现在二者的时钟是一样的了，都是96Mhz，然后经过96分频进入计数器。目前两个定时器的时间是这样的：

看到这里，有人可能发现问题了！TIM1是双向计数模式，按现有配置算起来，其计数周期是2*10000个时钟，而TIM3是单向向上计数模式，它的计数周期则是20000+1个时钟周期。跟TIM1的计数周期在数字上差了个1，因为计数时钟是经过96分频后过来的，意味着一个完整计数周期就差了96个PCLK 周期。也就说这两个TIMER即使有相同的计数起点，后面会不断积累时间偏差【或者说相位差更合适】，导致基于TIM3的更新事件的采样点相对TIM1总是在飘动。显然，对于TIM3而言，如果它1个周期也计数20000个时钟，它的ARR值应该设置为19999，此处错了！

修改后再行测试，采样点相对PWM输出的高电平中心就非常稳定了。你可以久久的凝视她，久久地，也见不到之前的漂移了，稳如磐石。【下图中黄色尖峰脉冲指示ADC采样触发时刻。ADC结果是同一内部通道的转换值。】

OK,稍作小结。开发时我们可以基于现有资源看菜吃饭，这里只是想借开篇问题分享点东西。问题不复杂，但真要做起来总会有七七八八的事情冒出来，也只有真正做起来才会体验到诸多细节，比如TIMER时基参数的拟定，它虽不复杂、不深奥但不代表不容易出错。这点也是本篇旨在重点提醒的地方。

对于STM32常规定时器而言，在单向【向上或向下】计数模式下，计数周期对应于ARR+1;对于中心对齐计数模式，计数周期对应于2倍ARR值。分频系数对应于PSC+1,溢出事件重复计数值对应于RCR+1.

试想下，对于前面采样点发生漂移现象，如果我不对时钟源先做96分频，这个漂移就不那么容易发现了。不容发现不代表那个漂移不存在，如果变成产品的话，就容易遇到那种奇怪的现象，产品刚开始功能很正常，后来用着用着功能就不太对劲了，然后当对产品复位或重启后问题似乎又消失了，但随着时间的推移问题又会重现，就很可能陷入那种没完没了而又无计可施的困扰和无奈状态。

当然，这里还涉及中心对齐计数模式下更新事件的位置拟定、定时器主从同步等内容，有兴趣的可以进一步尝试体验。