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特性
ADE7116/ADE7156/ADE7166/ADE7169/ADE7566/ADE7569将ADI公司电能（ADE）计量IC模拟前端和固定功能DSP解决方案与增强型8052 MCU内核、RTC、LCD驱动器和所有外设集成为一体，提供一种带液晶显示屏的电表。
ADE测量内核包括有功、无功和视在功率计算以及电压和电流均方根值测量。这些信息可通过内置的电能标量直接用于计费目的。电能计量DSP包括许多电力线路监控功能（如SAG、峰值和零交越等），可简化电表设计。
微处理器功能包括单周期8052内核、带备用电源引脚的实时时钟、UART以及SPI或I 2 C® 接口。ADE内核提供直接可用的信息，降低了对程序存储器大小的要求，使得能够轻松将复杂的设计集成到16 kB闪存中。
ADE7116/ADE7156/ADE7166/ADE7169/ADE7566/ADE7569还包括一个108/104段LCD驱动器。在ADE7166/ADE7169/ADE7566/ADE7569中，此驱动器产生的电压能够将LCD驱动至最高5 V。
模拟对话 1
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的 质量和可靠性计划和认证 以了解更多信息。
| 产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号，脚注和 3D模型 |
|---|---|---|---|
| ADE7566ASTZF16 |
64-Lead LQFP (10mm x 10mm)
|
|
根据型号筛选
重置过滤器
产品型号
产品生命周期
PCN
10月 18, 2016
- 16_0034
Assembly Relocation of Select LQFP,LQFP_EP,MQFP,TQFP,TQFP_EP Products to Stats ChipPAC China Jiangyin
1月 13, 2010
- 09_0257
Die revision of ADE7566 and ADE7569 to include input sampling structure improvement
ADE7566ASTZF16
过期
1月 5, 2009
- 07_0077
Certification of STATSChipPAC Shanghai, China and AMKOR Philippines as additional sources for Assembly & Test of QFP Packages
10月 17, 2016
- 16_0068
Obsolescence of Single-Phase Energy Measurement ICs with 8052 MCU,RTC and LCD Driver
ADE7566ASTZF16
过期
根据型号筛选
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产品生命周期
PCN
10月 18, 2016
- 16_0034
Assembly Relocation of Select LQFP,LQFP_EP,MQFP,TQFP,TQFP_EP Products to Stats ChipPAC China Jiangyin
1月 13, 2010
- 09_0257
Die revision of ADE7566 and ADE7569 to include input sampling structure improvement
1月 5, 2009
- 07_0077
Certification of STATSChipPAC Shanghai, China and AMKOR Philippines as additional sources for Assembly & Test of QFP Packages
10月 17, 2016
- 16_0068
Obsolescence of Single-Phase Energy Measurement ICs with 8052 MCU,RTC and LCD Driver
评估套件 1
EVAL-ADE7169
ADE7169评估板
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文章来源于:analog.com 原文链接
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