来源 北大EDA研究院 北京大学电子设计自动化研究院

北京大学EDA研究院是在黄如院士的倡议和关怀下，由北京大学与无锡市人民政府、无锡市高新区管委会共同发起成立。研究院依托北京大学集成电路学院，致力于将前沿研究成果转化为实际应用，推动相关产业的发展。半导体量测技术研究中心作为北大EDA研究院下设三个技术中心之一，位于无锡市新吴区思贤路18号亿利科创产业园思研楼1楼。

北大EDA研究院半导体量测技术中心目前配备了各种先进的测试仪器，包括高低温探针台（如 Cascade CM300xi）、高精度/超快半导体参数分析仪、矢量网络分析仪及先进的噪声分析系统。这些高端设备能够提供从分立器件到复杂芯片的全面测试分析，满足集成电路前沿研究对高精度和高可靠性的严格要求。

综合量测能力

半导体量测技术中心专注于各类电子元器件的研究，包括但不限于CMOS器件、DRAM器件、Flash器件、GaN和SiC等宽禁带半导体器件、MEMS器件、半导体激光器和光电探测器等。实验室致力于器件建模与失效机理研究、失效分析新技术、可靠性测试与寿命评估，以及可靠性模拟仿真与应用验证等工作。

我们还具有广泛的测试能力，技术涵盖传统硅基器件至第三代半导体功率器件、高压至低压测试、高温至超低温测试、超高速至超高精度测试等各类需求，提供从器件到模块的一站式、全方位的特性测试、表征和建模服务。

半导体量测技术中心的优势

涵盖CMOS器件、DRAM器件、Flash器件、GaN、SiC等宽禁带微波和功率半导体器件、MEMS器件、半导体激光器、光电探测器等各类电子元器件。

半导体量测技术中心实验室不仅具备尖端设备和专业团队，还专注于科研成果的转化与应用。近年来，在集成电路模型开发和参数提取方面，实验室积累了丰富的经验，能够为集成电路企业提供量测-建模一站式服务，涵盖PDK开发与验证、SPICE模型开发及参数提取、可靠性模型开发与参数提取，以及噪声建模分析等多个方面。

我们的愿景是成为半导体量测领域的领军技术中心，推动相关技术的进步。通过独特的测试方式，加速器件与电路的评估认证，并提供高通量的测试服务。我们诚挚欢迎各界朋友和同行专家莅临指导，共同探索集成电路领域的无限可能！