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研发客服客户使用的MCU 是F446，反馈在做压力测试时发现后，产品意外无法再工作。分析了几天仍然无进展，只有MCU 复位后才能恢复正常。
1 问题描述
客户使用的 MCU 是 F446，反馈在做压力测试时发现后，产品意外无法再工作。分析了几天仍然无进展，只有 MCU 复位后才能恢复正常。
2 问题分析
由于此问题以属于偶发现象，一时半刻无法重现。首先能想到的是可能客户使用到了动态内存。通过与客户沟通，发现客户在一个比较老的 HAL 库版本上的基础上进行了改造，将原来的动态内存方式改成了静态内存，因此，不应该是内存分析失败导致。
好在之前客户有通过 分析仪采集通信过程，如下图所示：
从上图可以看出，当出现问题时，有一堆异常数据，显示为 1044 个字节，展开内容却发现大部分字节值为 0Xff,如下图所示：
这部分数据没有合法格式，姑且认为是 总线上的干扰数据，由插拔操作导致。接下来要客户尝试在调试模式下重现问题，然后再截取异常出现时 各寄存器的值，检查是否有异常。
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