罗德与施瓦茨（以下简称R&S）的R&S RTS雷达测试解决方案验证了恩智浦半导体的下一代雷达传感器参考设计的性能。双方的合作推动汽车雷达的发展，雷达技术是实现高级驾驶辅助系统（ADAS）和自动驾驶功能的核心技术。

R&S与恩智浦通过一系列全面的测试，验证基于恩智浦的28纳米RFCMOS雷达单芯片SoC（SAF85xx）的新传感器参考设计。R&S RTS雷达测试系统包括R&S AREG800A汽车雷达回波发生器，R&S QAT100天线毫米波前端，该系统提供了独特的极短距离目标模拟能力，以及卓越的射频性能和信号处理能力。该测试是针对下一代汽车雷达应用的实际测试，推动汽车行业的完全自动驾驶愿景向前迈进。

恩智浦的下一代汽车雷达传感器参考设计基于行业首款28纳米RFCMOS雷达单芯片SoC系列。该雷达传感器参考设计可用于短、中和长距离雷达应用，以满足具有挑战性的NCAP（新车评价规程）安全要求，以及对L2+和L3车辆舒适功能的需求，包括定速巡航等等。

R&S RTS是适用于雷达传感器完整特性测试的系统，也是可以将目标距离下降到被测雷达空气间隔(airgap)的雷达回波发生器。R&S AREG800A汽车雷达回波发生器作为后端，R&S QAT100天线阵列或R&S AREG8-81S作为前端。该测试解决方案适用于汽车雷达生命全周期，包括开发实验室、硬件在环（HIL）、整车在环（VIL）、验证和生产应用等环节的要求。该解决方案还是完全可扩展的，可以模拟先进驾驶辅助系统的最复杂交通场景。

恩智浦半导体的高级辅助驾驶系统高级研发总监Adi Baumann：“多年来，我们一直与R&S密切合作，验证我们汽车雷达传感器参考设计。R&S领先的汽车雷达测试系统使我们能够高质量、高效地验证我们的汽车雷达产品，并验证我们雷达芯片的出色性能。R&S为恩智浦提供的经验、质量和支持水平正在产生积极影响。”

R&S信号源、电源及通用仪表业务副总裁Gerald Tietscher：“此次与恩智浦的合作加速了基于28纳米汽车雷达芯片的先进汽车雷达传感器的部署。这些技术服务于越来越具有挑战性的NCAP安全要求，并将有助于实现新的安全应用。我们在汽车雷达测试方面的经验使我们能够为这款基于行业首款28纳米RFCMOS单芯片雷达SoC的雷达传感器设计提供业界卓越的测试解决方案。”