锐芯微发布高速高性能CMOS动态平板探测器proX1512C

2022-12-20  

【导读】锐芯微电子新品proX1512C型 X射线平板探测器,像素96um,成像面积146mm×115mm,帧率高、动态范围宽、噪声低,可获得高质量的X射线图像。采用独特的抗辐照设计,辐照寿命高达20000Gy,极大的延长了探测器的使用寿命。支持千兆和2.5G以太网接口,在全分辨率下帧率高达80fps,可满足各类离线与在线检测系统对高速图像采集的需要。


●  proX系列 CMOS平板探测器,高速、低剂量成像

●  采用独特的抗辐照技术,辐照寿命高达20000Gy


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proX1512C的主要产品特点:


• 96um CMOS像素

• 低读出噪声

• 宽动态范围

• 杰出的抗辐照性能

• 极低的图像延迟

• 稳定的数据偏移校正

• 全分辨率80fps

• 千兆以太网/2.5G以太网接口


proX1512C助力无损检测行业,广泛应用于铸件裂纹、BGA、PCB板焊接、电池、封装、电子元器件等精密检测。


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proX1512C平板探测器目前已实现量产,欢迎垂询。



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