高分辨率光学链路诊断仪（OCI）基于光频域反射技术（OFDR），能轻松测试出光纤链路损耗情况。OFDR测试插损方式为，依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异，其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。

借助环形器测试大插损光路

测试样品为可调光衰减器，测试链路如图2所示：

图2.借助环形器测试大插损装置示意图

OCI测试整个光链路结果如图3，距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值，对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量，而本链路中借助环形器是透射式测量，因此实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。该位置积分回损为-25.69dB，是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。

图3.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图
使用OCI单独测试光纤环形器，损耗测试装置如图4。

图4.环形器损耗测试装置示意图

图5.OCI测试环形器结果图
 

测试结果如图5，从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值（实际光纤环形器光链路长度为3.72176m），回损为-2.55dB，是环形器单向累积损耗总和。因此可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。

使用功率计测试可调光衰减器插耗，测试装置如图6，测得可调光衰减器插耗为23.33dB，OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。

图6.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图

改变可调光衰减器插损，按照上述方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值，下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。

表1.OCI和功率计测试插损对比表从表1可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB，且OCI测试值均比功率计测试值大，这是由于功率计测试链路时，比OCI测试链路多一个FC法兰。

借助光纤环形器，OCI可以透射式测量大插损链路总体损耗，测试结果和功率计测试结果对比准确。