NI实现超快速5G毫米波OTA验证解决方案

2024-05-07  

在天线测试室中从事波束成形设备验证工作的工程师,必须使用空口(OTA)技术对其性能进行特性分析。他们需要在控制精准的RF环境中配置和运行详细的3D空间扫描。然而,执行这些空间扫描来绘制3D OTA天线辐射模式,以及校准波束成形器码本是耗时而昂贵的任务。此外,在一定的温度范围内进行这些测量,会大大加剧复杂程度。

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因此,在对天线模块和波束成形设备进行OTA验证时,解决方案必须满足以下要求:

  • 在配置和运行大量自动化OTA测试序列时,能够简化和加速该过程

  • 提供具有成本效益、无噪声且控制精准的OTA测试室,并具备高链路预算,同时还应可尽量减少测量不确定性

  • 为工程师提供详细的测量结果和曲线

  • 支持各种尺寸的设备(DUT),无论是只有少量元件的小型天线模块,还是拥有大型阵列的系统级设计,皆可提供支持

  • 具有散热功能,在大温度范围内验证DUT的性能


5G毫米波OTA验证参考架构

  • 通过连续的3D运动扫描,并将DUT定位器与同步,可将OTA验证时间从数小时缩短到数分钟。

  • 使用的实现交互式应用和快速自动化。

  • 利用一个可透RF的散热外壳,简化OTA测试的设置和执行,对不同温度下的5G毫米波天线模式进行特性分析。


解决方案的优势

  • 硬件加速的实时DUT定位器控制,可实现每分钟数千个空间点的采样(方位角和俯仰角)

  • 提供可靠的窄带和宽带(5G NR) OTA测量结果,例如EIRP、TRP和波束特性

  • 提供经济高效、高度隔离且低损耗的CATR室,可将信号干扰降至最低,并优化链路预算

  • 借助模块化的热圆顶外壳,避免对消声室造成损坏,在不同温度下(-40°C至85°C)进行特性分析

  • 通过直接远场或具有20厘米静区的紧凑型天线测试范围(CATR),优化链路预算和测量覆盖范围




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文章来源于:电子产品世界    原文链接
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