特性
- PLL产生的主时钟或直接主时钟
- 低电磁辐射设计
- DAC动态范围和SNR：112 dB；ADC动态范围和SNR：107 dB
- THD+N：-96 dB
- 3.3 V单电源
- 兼容5 V逻辑输入
- 支持24位和8 kHz至192 kHz采样速率
- 欲了解更多信息，请参考数据手册
AD1937设计用于低电磁辐射(EMI)环境，系统架构和电路设计架构均明显体现了这一点。它利用片上PLL从LR（帧）时钟或外部晶振获得主时钟，因而无需独立的高频主时钟，并且也可以结合抑制位时钟使用。DAC和ADC设计均采用ADI公司最新的连续时间架构，使电磁辐射进一步降低。通过使用3.3 V电源，功耗达到较小，辐射也进一步降低。
应用
数据手册, Rev. 0, 9/08
数据手册 1
用户手册 1
应用笔记 1
器件驱动器 1
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的 质量和可靠性计划和认证 以了解更多信息。
| 产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号，脚注和 3D模型 |
|---|---|---|---|
| AD1937WBSTZ |
64-Lead LQFP (10mm x 10mm)
|
|
|
| AD1937WBSTZ-RL |
64-Lead LQFP (10mm x 10mm)
|
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根据型号筛选
重置过滤器
产品型号
产品生命周期
PCN
2月 9, 2024
- 24_0012
Addition of Analog Devices, Ireland as an Alternate Fab Site 0.35um Process
AD1937WBSTZ
量产
AD1937WBSTZ-RL
量产
12月 7, 2016
- 16_0033
Assembly Relocation to Stats ChipPAC Jiangyin and Test Transfer to Stats ChipPAC Singapore of Select QFP Products
1月 5, 2009
- 07_0077
Certification of STATSChipPAC Shanghai, China and AMKOR Philippines as additional sources for Assembly & Test of QFP Packages
根据型号筛选
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产品型号
产品生命周期
PCN
2月 9, 2024
- 24_0012
Addition of Analog Devices, Ireland as an Alternate Fab Site 0.35um Process
AD1937WBSTZ
量产
AD1937WBSTZ-RL
量产
12月 7, 2016
- 16_0033
Assembly Relocation to Stats ChipPAC Jiangyin and Test Transfer to Stats ChipPAC Singapore of Select QFP Products
1月 5, 2009
- 07_0077
Certification of STATSChipPAC Shanghai, China and AMKOR Philippines as additional sources for Assembly & Test of QFP Packages
软件模块
Automated Register Window Builder
器件驱动器
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评估套件 2
EVAL-ADUSB2EBZ
ADUSB2EBZ评估板
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EVAL-AD1937
AD1937 评估板
IBIS 模型
